Nanodcal半导体器件:计算n型掺杂NiSi2-Si器件的输运特性

描述

Nanodcal是一款基于非平衡态格林函数-密度泛函理论(NEGF - DFT)的第一性原理计算软件,主要用于模拟器件材料中的非线性、非平衡的量子输运过程,是目前国内拥有自主知识产权的基于第一性原理的输运软件。可预测材料的电流 - 电压特性、电子透射几率等众多输运性质。

迄今为止,Nanodcal 已成功应用于1维、2维、3维材料物性、分子电子器件、自旋电子器件、光电流器件、半导体电子器件设计等重要研究课题中,并将逐步推广到更广阔的电子输运性质研究的领域。

本期将给大家介绍Nanodcal半导体器件2.7.3的内容。

2.7.3. 计算n型掺杂NiSi2-Si器件的输运特性

Nanodcal软件通过虚晶近似(Virtual Crystal Approximation,VCA)的方法实现半导体的n型或者p型掺杂。为了确保Si在中心区域的长度大于耗尽层的宽度,选用一个较长的n型掺杂NiSi2-Si器件进行输运特性计算。

2.7.3.1. 生成Si原子的VCA基组文件

(1)双击图标“ DeviceStudio快捷方式 ”打开软件;

(2)选择 Create a new Project → OK →文件名: Si ,保存类型:ProjectFiles(*.hpf)→

保存 即可;

(3)从数据库中导入Si晶体,如下:

File → Import → 3DmaterialsConductorPure_metalSi 打开即可:

半导体器件

图 2-52:导入晶体Si界面操作图

(4)选择 Simulator → Nanodcal → Virtual Crystal Approximation ,进入VCA设置界面,如下:选择Mixture vacancy

半导体器件

图 2-53:VCA设置界面图

价电子的占有率设为1.00005。点击 Generate Files 生成 VCA.input 文件。右击 VCA.input 文件,选择 Run ,即可实现Nanodcal在Device Studio中的一体化计算。

(5)计算完成后,右击 VCA.input ,选择 Open Containing Folder ,打开所在文件夹,产生了新的基组文件:Si_VCA_Si1.00005.mat

2.7.3.2. 自洽计算

(1)基组文件:Si_PBE-DZP.nad 、Ni_PBE-DZP.nad 和 Si_VCA_Si1.00005.mat 。左电极自洽计算的输入文件及方法与1.2.1小节相同

(2)右电极进行了掺杂,scf.input 中Si原子的轨道类型变为VCA_Si1.00005,如下:

半导体器件

(3)同样,在中心区的自洽输入文件 scf.input 中,被掺杂Si原子相应的轨道类型也变为VCA_Si1.00005,如下:

半导体器件

(4)自洽计算结束后,采用1.2.3和1.2.6小节的方法,计算n型掺杂的NiSi2-Si器件的势分布和投影态密度(PDOS),如下:

半导体器件

图 2-54:n型掺杂NiSi2-Si势分布可视化图

半导体器件

图 2-55:n型掺杂NiSi2-SiPDOS可视化图

2.7.3.3. 非平衡态下的输运特性

(1)偏压V bias 被定义为V L -V R 。对器件施加0.3 V偏压,中心区的输入文件 scf.input 改变

半导体器件

(2)在自洽完成的基础上,进行电流计算

准备输入文件 ivcurve.input

半导体器件

右击Project窗口中的 ivcurve.input 文件,选择 Run → Run ,计算电流;计算结束后,会产生以下输出文件:CalculatedResults.mat 、log.txt 、CurrentVoltageCurves.mat、CurrentVoltageCurves.xml 。最后,查看数据,在Matlab界面,使用如下命令来查看数据:


半导体器件

(3)对n型掺杂的NiSi 2 -Si器件施加一系列偏压,得到I-V曲线如下:

半导体器件

图 2-56:NiSi2-Si的IV曲线图

2.7.3.4. 耗尽层WD与掺杂浓度的关系

为了使模拟达到合理的目标,我们需要确保硅在中心区域的长度大于耗尽层的宽度。这里我们对器件进行10 19 、10 20 和10 22 cm -3 浓度的n型掺杂,计算它们的势分布。其中VCA基组生成,自洽计算和势分布计算的方法与上述1.3.1和1.3.2相同。

W D 与掺杂浓度N的关系如下:

半导体器件
图 2-60:WD与掺杂浓度N关系图

编辑:黄飞

 

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