什么是相位噪声 相位噪声的三种测量方案

相位噪声是影响接收系统性能的重要因素。相位噪声会降低基于脉冲信号的雷达系统处理多普勒信息的能力，也会降低数字调制通信系统中的误差矢量幅度 (EVM) 性能。

相位噪声的测量也是一个比较复杂的难题，即使采用当今先进的硬件设备和改进的测试技术，测量过程和结果的阐释过程仍具有相当的难度和挑战。

用于测量相位噪声的三种最广泛采用的技术：直接频谱仪法、相位检波器法和双通道互相关法。

直接频谱仪法使用频谱/信号分析仪等仪器测量宽带信号的频谱能量，但由于幅度噪声对相位噪声的影响，这种方法存在一些限制。更多的应用会采用专门的相噪测试仪器，利用相位检测器和双通道互相关技术进行相位噪声的测量。这两种技术都作用于基带信号，因此需要一个下变频器。

测试方法	优点	缺点
频谱仪法 （直接频谱分析）	- 操作简单 - 快速检查锁相信号	- 难以测量晶振等的近载波相噪 - 无法测量诸如自由振荡的VCO等漂移信号源的相噪 - 难以将AM噪声与相位噪声分开
锁相环法 （参考源/锁相环技术）	- 适用于宽泛的偏移范围 - 使用性能优异的本振，可以测量非常低的载波近端相噪 - 可以剥离AM噪声对相噪的影响 - 可以在远端偏移处测量非常低的相噪 - 适用于测量相对漂移的信号源，例如YIG振荡器。	- 相噪灵敏度受制于本振噪声的影响 - 设置复杂且需要进行校准 - 由于鉴相器增益下降，不适于近端相噪的测试 - 设置复杂且需要进行校准 - 难以获得合适的延迟线
信号源分析仪法 （双通道锁相环互相关法）	- 操作简单，无需复杂的设置和系统校准 - 在宽泛的偏移范围内测量非常低的相噪 - 互相关提高了相噪测试的灵敏度	- 对于近端频偏、极低的相噪测试，耗时更长

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编辑：黄飞