专门为内存颗粒测试设计的DDR4/DDR5 Interposr测试板

DDR4/DDR5 Interposer产品说明书

应用场景：

支持DDR4 DDR5的芯片颗粒测试，符合JEDEC协会规范。

主要特点：

阻抗一致性优越，体积紧凑。

极低的插入损耗。

搭配riser板可在所有硬件系统测试。

各通道skew差异小于±1ps。

8层3阶盲埋孔工艺，极限加工。

迪赛康DDR4/DDR5 Interposr测试板专门为内存颗粒测试设计，阻抗一致性优异，极低延迟，最高速率支持6.4Gbps，可以用于78pin和96pin/102pin封装的DDR4和DDR5颗粒测试。

内存芯片所有信号均引出板边，包括电源和地，根据实际测试环境可选择使用增高板(Riser)避开周边干涉。

● 因为走线空间狭小，所以要通过仿真精准确定层叠和走线拓扑结构

DDR颗粒的Interposer板测试一般是将DDR4或DDR5颗粒焊接在Interposer上再焊接在产品单板（根据实际情况决定是否需要增加riser板避开单板器件）后，上电可以正常开机，表示通过系统检测，然后就可以通过测试探头连接仪器对相关的信号进行测试。

审核编辑：刘清