电子行业新涌现的 6 个质量控制趋势

描述

要成为具有良好声誉的 RF 解决方案和电子元件供应商,质量控制是关键。随着技术不断进步,新制造流程不断提高元件的精度,提高质量控制水平,优化流程变得比以前更加重要。其中许多技术实践都已成为行业趋势,推动不断提高质量标准和结果。


Qorvo 高级质量总监 Wade Cole 表示,除了支持制造商监控质量数据的波动之外,这些趋势还有更多作用。它们还能带来更好的数据解析方法,在更深层次支持质量控制。


Wade 表示:“质量控制的一个重要方面是防错。你可能听过人们将其称为 Poka-Yoke(由工业工程师 Shigeo Shingo 于 20 世纪 60 年代提出,正式命名为零质量控制)。可能无法实现完美,但这个概念最终可能实现制造流程防错。如果能找到自动执行重复流程的方法,那么就更有可能获得所期望的结果。”

















六大质量控制趋势







1、挖掘大数据

利用大数据现已成为重要的质量控制实践。1 TB 内存相对便宜,因此制造商能够收集更多有关其流程的可操作信息。目前有一些大数据挖掘程序已在使用,还有一些更强大的程序即将问世,它们可以发现关键趋势,预测何时可能会发生质量问题。Wade 表示:“Qorvo 多年来一直在晶圆厂使用这些类型的人工智能 (AI) 工具,以便及早发现潜在问题。通过使用 AI 类型的机器人来实时监测数据,我们可以发现问题,尽可能减少由此造成的麻烦。通过扫描这类大数据,我们可以及早发现关键问题或异常,避免问题变得更严重。这样,我们就可以更好地防止出现问题,减少被动解决问题的几率。”



2、大批量可靠性测试

测试少量产品可以发现偶发性问题,测试大批量产品则能够发现重复性和/或每百万单位缺陷率 (DPM) 较低的问题。更大批量的样本可以提供更准确的检测结果,以及可行度更高的结果。为此,我们每年在 Qorvo 可靠性实验室中通过烤箱和测试室营造的恶劣条件下,测试数百万个产品。我们将发现的故障送交故障分析实验室进行分析,以找出导致故障的物理缺陷。之后,质量团队会解决问题,找到导致缺陷的根本原因,并采取纠正和预防措施,确保该故障不会再次出现。



3、异常检测

这项质量控制趋势与异常检测相关,是通过查看产品之间的差异,并通过差异获取信息。“如果你偶然发现一个产品的指标与标称值相差甚远,这就是个异常产品。在整个生产流程中,有多个地方可能出现这种问题。将异常产品挑出来,并评估导致异常的源头,是非常值得的。”



4、产品平均测试 (PAT)

这项质量控制趋势与异常检测相关,是通过查看产品之间的差异,并通过差异获取信息。“如果你偶然发现一个产品的指标与标称值相差甚远,这就是个异常产品。在整个生产流程中,有多个地方可能出现这种问题。将异常产品挑出来,并评估导致异常的源头,是非常值得的。”



5、干净量产

理想情况自然是客户始终收到没有问题的产品。要确保这一点,需要收集过去的问题,确认并防止关键问题重复发生。Wade 表示:“Qorvo 不懈努力,致力于实现我们所说的‘干净量产’。如果有问题阻碍实现干净量产,我们会安排问题解决团队予以解决。在进行量产之前,我们会认真核验清单,确保遵循所有最佳实践规程进行。”



6、有效的传统反馈途径

我们要遵循的另一种实践方法并不是行业质量控制趋势,而是一种通常做法——只需倾听客户的意见。客户自己也有必须解决的问题,在解决问题的过程中,他们也许能够找出最佳做法。通过倾听客户的意见,Qorvo 可采用凭借自身可能无法发现的最佳实践,进一步提高产品质量。“如果回顾一下我们跟踪的某个关键指标——百万出货量的评论量或退货量——就会发现该数字大幅下降,从百万之一级下降到十亿分之一级。”很显然,坚持并及早采用这些质量控制方法带来了回报。







资源






查看企业社会责任如何影响企业文化和个性:超越合规性:Qorvo 的企业社会责任计划(https://www.qorvo.com/design-hub/blog/beyond-compliance-qorvo-corporate-social-responsibility-initiatives)。有关 Qorvo 质量承诺的更多信息,请点击此处查看(https://www.qorvo.com/about-us/quality)




Wade Cole, 高级质量总监

Qorvo

Wade 满怀激情地致力于满足内部和外部客户的质量需求。20 多年来,他一直帮助 Qorvo 塑造有关持续改进的文化。从 Wade 自身的角色来说,每一天都是全新的,不同的。这可能给他带来新的挑战和令人兴奋的机会,让他与 Qorvo 全公司人员互动,保持专注,更富有活力。

Qorvo


原文标题:电子行业新涌现的 6 个质量控制趋势

文章出处:【微信公众号:Qorvo半导体】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。

打开APP阅读更多精彩内容
声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉

全部0条评论

快来发表一下你的评论吧 !

×
20
完善资料,
赚取积分