二次离子质谱(SIMS)是一种分析方法。具有高空间分辨率和高灵敏度的工具。它使用高度聚焦的离子束(通常是氧气或(无机样品用铯离子)“溅射”样品表面上选定区域的材料。
喷射出的“二次离子”通过质量。分光计,它将离子按照它们的质量/电荷比,实际上提供了化学物质分析一个很小的取样量。
编辑:黄飞
全部0条评论
快来发表一下你的评论吧 !