STM32CUBEMX开发GD32F303（10）----双ADC轮询模式扫描多个通道

概述

本章STM32CUBEMX配置STM32F103，并且在GD32F303中进行开发，同时通过GD32303C_START开发板内进行验证。需要GD样片的可以加Q_QUN申请：615061293。 本章主要配置,双ADC轮询模式扫描多个通道，通过串口进行打印。 查阅手册可以得知，PA9、PA10为串口0的输出和输入口。

ADC通道配置

ADC1	IN0(PA0)	IN3(PA3)	IN4(PA4)
ADC2	IN7(PA7)	IN8(PB0)	IN9(PB1)

生成例程

这里准备了GD32303C_START开发板进行验证。

STM32CUBEMX配置

勾选中断。

ADC1配置。

• ADCs_Common_Settings：
  • Mode：Independent mod 独立 ADC 模式，当使用一个 ADC 时是独立模式，使用两个 ADC 时是双模式，在双模式下还有很多细分模式可选，具体配置 ADC_CR1:DUALMOD 位。
• ADC_Settings：
  • Data Alignment：
    • Right alignment 转换结果数据右对齐，一般我们选择右对齐模式。
    • Left alignment 转换结果数据左对齐。
  • Scan Conversion Mode：
    • Disabled 禁止扫描模式。如果是单通道 AD 转换使用 DISABLE。
    • Enabled 开启扫描模式。如果是多通道 AD 转换使用 ENABLE。
  • Continuous Conversion Mode：
    • Disabled 单次转换。转换一次后停止需要手动控制才重新启动转换。
    • Enabled 自动连续转换。
  • DiscontinuousConvMode：
    • Disabled 禁止间断模式。这个在需要考虑功耗问题的产品中很有必要，也就是在某个事件触发下，开启转换。
    • Enabled 开启间断模式。
• ADC_Regular_ConversionMode：
  • Enable Regular Conversions 是否使能规则转换。
  • Number Of Conversion ADC转换通道数目，有几个写几个就行。
  • External Trigger Conversion Source 外部触发选择。这个有多个选择，一般采用软件触发方式。
• Rank：
  • Channel ADC转换通道
  • Sampling Time 采样周期选择，采样周期越短，ADC 转换数据输出周期就越短但数据精度也越低，采样周期越长，ADC 转换数据输出周期就越长同时数据精度越高。
• ADC_Injected_ConversionMode：
  • Enable Injected Conversions 是否使能注入转换。注入通道只有在规则通道存在时才会出现。
• WatchDog：
  • Enable Analog WatchDog Mode 是否使能模拟看门狗中断。当被 ADC 转换的模拟电压低于低阈值或者高于高阈值时，就会产生中断。

ADC2配置。 生成独立的文件。

keil配置

microlib 进行了高度优化以使代码变得很小。 它的功能比缺省 C 库少，并且根本不具备某些 ISO C 特性。 某些库函数的运行速度也比较慢，如果要使用printf(),必须开启。

代码

在main.c中，添加头文件，若不添加会出现 identifier "FILE" is undefined报错。

/* USER CODE BEGIN Includes */
#include "stdio.h"
/* USER CODE END Includes */

函数声明和串口重定向：

/* USER CODE BEGIN PFP */
int fputc(int ch, FILE *f){
    HAL_UART_Transmit(&huart1 , (uint8_t *)&ch, 1, 0xFFFF);
    return ch;
}

/* USER CODE END PFP */

定义变量，存放采集到的数据。

/* USER CODE BEGIN 0 */
uint8_t i;
uint16_t adc1Buf[3];//ADC1数组
uint16_t adc2Buf[3];//ADC2数组

/* USER CODE END 0 */

ADC校准。

/* USER CODE BEGIN 2 */
    HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc1); //ADC校准
    HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc2); //ADC校准
    printf("ADC Demo!
");
  /* USER CODE END 2 */

采集数据。

/* USER CODE BEGIN WHILE */
  while (1)
  {
    /* USER CODE END WHILE */

    /* USER CODE BEGIN 3 */    
    i=0; 
    while(i<3)
    {
        HAL_ADC_Start(&hadc1);//启动ADC
        HAL_ADC_PollForConversion(&hadc1,0xffff);//表示等待转换完成，第二个参数表示超时时间，单位ms.
        //HAL_ADC_GetState(&hadc1)为换取ADC状态，HAL_ADC_STATE_REG_EOC表示转换完成标志位，转换数据可用。
        if(HAL_IS_BIT_SET(HAL_ADC_GetState(&hadc1),HAL_ADC_STATE_REG_EOC))//就是判断转换完成标志位是否设置,HAL_ADC_STATE_REG_EOC表示转换完成标志位，转换数据可用
        {
         //读取ADC转换数据，数据为12位。查看数据手册可知，寄存器为16位存储转换数据，数据右对齐，则转换的数据范围为0~2^12-1,即0~4095.
         adc1Buf[i]=HAL_ADC_GetValue(&hadc1);
         i++;
        }
     }
    printf("
adc1_IN0(PA0)=%4.0d,电压=%1.4f",adc1Buf[0],adc1Buf[0]*3.3f/4095);
    printf("
adc1_IN3(PA3)=%4.0d,电压=%1.4f",adc1Buf[1],adc1Buf[1]*3.3f/4095);     
    printf("
adc1_IN4(PA4)=%4.0d,电压=%1.4f",adc1Buf[2],adc1Buf[2]*3.3f/4095);     
    HAL_ADC_Stop(&hadc1);
    HAL_Delay(500);        
    i=0; 
    while(i<3)
    {
        HAL_ADC_Start(&hadc2);//启动ADC
        HAL_ADC_PollForConversion(&hadc2,0xffff);//表示等待转换完成，第二个参数表示超时时间，单位ms.
        //HAL_ADC_GetState(&hadc1)为换取ADC状态，HAL_ADC_STATE_REG_EOC表示转换完成标志位，转换数据可用。
        if(HAL_IS_BIT_SET(HAL_ADC_GetState(&hadc2),HAL_ADC_STATE_REG_EOC))//就是判断转换完成标志位是否设置,HAL_ADC_STATE_REG_EOC表示转换完成标志位，转换数据可用
        {
         //读取ADC转换数据，数据为12位。查看数据手册可知，寄存器为16位存储转换数据，数据右对齐，则转换的数据范围为0~2^12-1,即0~4095.
         adc2Buf[i]=HAL_ADC_GetValue(&hadc2);
         i++;
        }
     }
    printf("
adc2_IN7(PA7)=%4.0d,电压=%1.4f",adc2Buf[0],adc2Buf[0]*3.3f/4095);
    printf("
adc2_IN8(PB0)=%4.0d,电压=%1.4f",adc2Buf[1],adc2Buf[1]*3.3f/4095);     
    printf("
adc2_IN9(PB1)=%4.0d,电压=%1.4f",adc2Buf[2],adc2Buf[2]*3.3f/4095);     
    HAL_ADC_Stop(&hadc2);
    HAL_Delay(500);            
  }
  /* USER CODE END 3 */

测试结果

输入固定电压进行测试。

ADC1	IN0(PA0)	IN3(PA3)	IN4(PA4)
输入电压	VCC	2.0V	GND
ADC2	IN7(PA7)	IN8(PB0)	IN9(PB1)
输入电压	VCC	GND	2.0V

测试结果如下。

　　审核编辑：汤梓红