前言
首先介绍了双极性晶体管(BJT)的工作原理,接着演示了晶体管的伏安(I-V)特性,电流增益(current gain)和输出电导(conductance)。高能注入和重掺杂带来的能带狭窄也会介绍到。解释了SiGe晶体管、度越时间、截止频率的基本概念。另外介绍一些BJT的晶体管模型,比如Ebers-Moll,smal-signal和charge control模型。每一个模型都有各自的应用范围。
BJT双极性集体管是在1948年由坐落在美国新泽西的贝尔电话实验室发明的。BJT是第一个量产的晶体管,领先于MOSFET十年多。大约在1968年,当金属氧化物半导体场效应管(MOSFET)被发明后,MOSFET迅速凭借高密度低功耗的优势,超越了BJT。但是,在一些高频率和模拟领域,BJT依然是更好的选择,这是因为BJT具有高速、低噪声和高输出功率的特点。大家比较熟悉的手机射频放大器都是采用BJT。补充说明:高密度互补MOS芯片,如果集成了少量的BJT,这种一般叫做BiCMOS技术。
双极性Bipolar表示在BJT工作过程中,电子和空穴都参与了。事实上,在PN结中,少数派的载流子起到了关键作用。结(Junction)表示PN junction对于BJT的工作起到了至关重要的作用。
介绍BJT
组成BJT的是重掺杂的发射极(emitter),P型的基极(base)和一个N型的集电极(collector)。这类器件叫做NPN BJT。类似,一个PNP BJT有一个P+发射极,N型的base和P型的collector。相比于PNP的三极管,NPN的三极管表现出更高的跨导和速度,这是因为电子相对于空穴移动速度更快。所以行业内一般说BJT,指的就是NPN型。
(a)NPN BJT的示意图和正常电压极性
(b)从发射极注入到基极的电子决定了集电极电流Ic
(c)Ic基本上被VBE决定,对于VCB不敏感
当base-emitter发射结正偏,电子就被注入到了轻度掺杂的base。他们扩散到反向偏置的base-collector结(耗尽层边缘),最后进入集电极。这就产生了集电极电流Ic。只要是VCB是反向偏置的(或者小信号正偏),那么Ic就和VCB没有关联。从emitter注入到collector的电子比率决定了Ic,或者说由VBE决定。一般在PN 二极管中,这个注入比率大概和下面的表达式成比例。
从图(c)中可以很明显看到这个结论。
通常发射极会直接接到地。这里的emitter和collector类似于MOSFET里面的source(源) 和drain(漏)。base类似gate(栅)。Ic电流相对于VCE的图例请参考下图。
(a)共射架构
(b)Ic vs VCE
(c)可以采用IB来作为参数
(d)NPN电路符号
当VCE约等于0.3V,base-collector正偏,Ic下降。因为寄生电阻下降,很难精确评估base-emitter结电压,所以一般测量IB。下回我们来讨论Ic和IB的比例关系。
审核编辑:汤梓红
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