仅1颗外围的AC过零检测芯片

1►PN1000方案六大亮点

1BOM精简：仅需1个外围元器件，便于生产加工和小型化设计

2宽输入电压：AC输入电压75~300Vac

3高精度检测技术：内置高精度过零检测电路

4高可靠性：ACIN耐压700V，ACZO ESD大于3.5KV

5智能保护：输出过载保护、短路保护、开路保护、过温保护

6超低待机功耗：小于30mW

2►PN1000方案过零检测原理

PN1000是一款过零检测专用芯片，内置有700V高耐压功率管和高精度的过零检测电路，具有极低的待机功耗。工作时，芯片ACIN端子通过一个限流电阻接在市电一个输入端，芯片GND端子连接市电另外一个输入端同时也连接应用系统地，芯片ACZO端子输出过零信号。在市电输入电压正半周期，ACIN端子电压大于GND端子电压，内部检测电路会产生一个5V左右的电压信号并通过ACZO端子输出;在市电输入电压负半周期，ACIN端子电压小于GND端子电压，内部检测电路处于截止状态，同时ACZO端子输出一个接近0V电压信号。PN1000通过这种实时检测输入电压正负周期变化，输出一个高精度的过零点信号，可直接送给如MCU控制器来进行处理。

3►Demo实物图及图纸

4►PN1000方案与三极管过零检测方案BOM及性能对比

4.1三极管过零检测方案线路图

4.2 Bom比对

PN1000方案比三极管过零检测方案省6颗元件，易于小型化设计。

4.3 过零检测芯片与三极管过零检测主要性能对比

5►过零检测芯片测试数据

5.1 过零工作波形

测试条件：Vin=115/230Vac

测试波形如下：CH1:AC_zero，CH4:AC_input

115Vac过零波形

230Vac过零波形

5.2 EFT测试

测试条件：Vin=230Vac，EFT 4KV;

测试结果：PASS

5.3 Surge测试

测试条件：Vin=230Vac，差模雷击2KV;

测试结果：PASS

5.4 EMI测试

测试条件：Vin=230Vac，PN1000过零检测芯片搭配Buck-Boost电源5V/0.2A系统测试

测试结果：满足EN55022 Class B标准要求

L相线

N相线

6►应用要点

1 ►PN1000 仅适用于单二极管或者两颗二极管直接串联的半波整流系统。

2 ►ACIN通过1颗电阻接到输入整流二极管之前，绕线保险电阻和压敏电阻之后，GND脚直接接系统输出地，推荐电阻值10K/1206。

3 ►ACIN脚与ACZO、GND脚走线之间需要满足安规要求, 推荐2.5mm以上的爬电距离。

审核编辑：汤梓红