MAX16031/MAX16032系统监测器支持外部连接成二极管的晶体管来检测远端温度。二极管连接的晶体管具有与温度相关的特性,可以使用简单的过程进行测量。根据晶体管的类型,这些特性略有不同;因此,在MAX16031/MAX16032产生精确的温度读数之前,需要进行校准过程。
MAX16031/MAX16032 EEPROM可配置系统监测器设计用于监测复杂系统中的电压、温度和电流。这些EEPROM可配置器件在选择工作范围方面具有极大的灵活性;温度、电压和电流的上限和下限;故障输出配置;以及能够在设备中存储这些值的操作模式。
MAX16031可监测多达8个电压、3个温度(1个内部/2个外部远端温度二极管)和1个电流。MAX16032可监测多达6个电压和2个温度(1个内部/1个远端温度二极管)。这些监控参数中的每一个都被多路复用到ADC中,并写入其各自的寄存器,该寄存器可以通过SMBus读回™和 JTAG 接口。
EEPROM中外部温度传感器的校准参数必须由客户设置,因为它们取决于应用电路中使用的二极管类型。本应用笔记提供了校准外部温度传感器的步骤。本文简要介绍了一种用于测量温度的通用双电流方法,然后介绍了MAX16031/MAX16032采用的双电流方案。还提供了使用二极管连接的2N3904晶体管作为示例的特定校准程序。
温度传感评论
所有半导体器件都表现出温度依赖性。特别令人感兴趣的是正向偏置PN结的IV曲线,它在很大程度上取决于温度。以下二极管方程模拟了这种行为:
其中T是以开尔文为单位测量的温度,n是二极管理想因子,k是玻尔兹曼常数(1.38e-23),q是电子的电荷(1.6e-19),V是是基极-发射极电压,IS是反向饱和电流,I是二极管电流。
一种简单而准确的温度检测方法是强制两个不同的电流通过二极管,并获取每个电流的基极发射极电压之间的电压差。这消除了对 I 的依赖S并使基极-发射极电压差与温度之间的关系相当线性。下面的等式显示了它如何工作在两个电流,IH和我L.
其中 ΔV是是两个电流下基极-发射极电压之差,IH是更高的强制电流,IL是较低的强制电流。其他参数与之前相同。求解 T 并转换为摄氏度可得到以下结果:
该方程表明温度与ΔV成正比是由物理常数、二极管理想因子和两个检测电流之比决定的比率。
MAX16031/MAX16032温度检测
MAX16031/MAX16032采用上一节讨论的双电流技术测量外部温度二极管的温度。缩放和转换 ΔV 后是对于数字代码,器件减去表示 -273.15 度偏移的固定代码。结果数字是以摄氏度为单位的温度,分辨率为 0.5°。
温度检测电路需要校准以补偿不同的二极管理想系数。MAX16031/MAX16032中的每个外部温度传感器都需要两个校准值:增益和失调。
存储在 r19h[7:2](传感器 1)和 r4Fh[5:0](传感器 2)中的增益值控制 IH当前(IL电流固定在 6μA)。表1显示了每个增益寄存器位的位权重。例如,值 110000b 对应于 IH84μA。
r19h[7:2], r4Fh[5:0] 位 | 我H附加值达 80μA (μA) | |
逻辑 '1' | 逻辑 '0' | |
0 | +0.25 | 0.0 |
1 | +0.25 | 0.0 |
2 | +0.5 | 0.0 |
3 | +1.0 | 0.0 |
4 | 0.0 | +2.0 |
5 | +4.0 | 0.0 |
位于r1Bh[7:5](传感器1)和r4Dh[6:4](传感器2)中的失调值被添加到温度转换结果中,以补偿失调误差。表 2 显示了可能的偏移值。
r1Bh[7:5], r4Dh[6:4] 值 | 偏移量(°C) |
100 | +8 |
101 | +6 |
110 | +4 |
111 | +2 |
000 | 0 |
001 | -2 |
010 | -4 |
011 | -6 |
使用MAX16031评估板(EV kit)时,软件可通过图1所示的温度设置对话框方便地访问每个校准寄存器。在“电流和温度”选项卡(如图 2 所示)中,单击蓝色的外部温度 1 或外部温度 2 链接以访问每个温度监控通道的设置对话框。
图1.“温度设置”对话框。
图2.“电流”和“温度”选项卡。
在校准过程中以及正常运行期间,启用内置数字温度传感器滤波器非常有帮助。在评估板软件中,从“其他”选项卡中的温度检测滤波器时间常数下拉列表中选择中心频率。这与表3中描述的寄存器r5Bh[6:4]相对应。
r5Bh[6:4] 值 | 截止频率(赫兹) |
000 | 过滤器已禁用 |
001 | 2.53 |
010 | 5.06 |
011 | 10.1 |
100 | 20.2 |
101 | 40.5 |
110 | 81 |
111 | 162 |
校准程序
为了校准MAX16031/MAX16032的温度传感器电路,需要在两种不同的温度下获取数据。温度应相隔很远,以获得最佳效果。为简单起见,第一个温度可以是+25°C。 为了获得更好的精度,第二个温度应高于室温而不是更低;一个良好的值是+85°C。 为获得最佳精度,应在-40°C和+85°C下获取数据。 下面的MAX16031示例获取+25°C和+85°C的校准数据,并在二极管连接配置中使用Fairchild 2N3904晶体管——集电极和基极短路在一起。
为获得最佳结果,被校准的传感器应浸入温控浴中的非导电流体中。该示例使用氟惰性™FC-77,尽管矿物油等其他液体也可能起作用。如果没有此类设备,如果将传感器连接到具有大热质量的金属物体上,则市售烤面包机烤箱可能就足够了,这会增加校准期间的温度稳定性。使用与传感器有良好热耦合的精确热电偶来测量温度。
请按下列步骤收集校准数据:
确保偏移寄存器设置为零。
将温度设置为低值(在本例中为 +25°C),留出足够的时间进行稳定。
将增益寄存器设置为 80μA。
记录MAX16031返回的数字值。
对每个可能的增益寄存器值重复步骤4。
将温度设置为高值(在本例中为+85°C),留出足够的时间进行稳定。
重复步骤 3、4 和 5。
收集数据后,应执行几个简单的计算。对于从MAX16031收集的每个温度,计算误差值:
T犯 错= TMAX16031- 吨量过的
然后,计算单个增益值的每个误差值之间的差值:
Δ = TERR_85- 吨ERR_25
表4显示了示例校准数据。增益注册码和增益值(μA)列将增益寄存器设置显示为十六进制码和等效电流源值。这TMAX16031(°C)列显示了从MAX16031温度转换结果寄存器获得的在低温(+25°C)和高温(+85°C)下每种增益设置的读数。这T犯 错(°C)列列出了MAX16031记录的温度与实际测量温度之间的误差(差)。Δ (°C) 列列出了高温和低温下记录的误差值之间的差异。
增益注册码 | 增益值 (μA) | TMAX16031(°C) | T犯 错(°C) | δ (°C) | ||
+25 | +85 | +25 | +85 | |||
0x10 | 80 | 17.5 | 75 | -7.5 | -10 | -2.5 |
0x12 | 80.25 | 17.5 | 75.5 | -7.5 | -9.5 | -2 |
0x14 | 80.5 | 17.5 | 76 | -7.5 | -9 | -1.5 |
0x16 | 80.75 | 18 | 76.5 | -7 | -8.5 | -1.5 |
0x18 | 81 | 18.5 | 76.5 | -6.5 | -8.5 | -2 |
0x1A | 81.25 | 18.5 | 77 | -6.5 | -8 | -1.5 |
0x1C | 81.5 | 19 | 77.5 | -6 | -7.5 | -1.5 |
0x1E | 81.75 | 19.5 | 78 | -5.5 | -7 | -1.5 |
0x0 | 82 | 20 | 78.5 | -5 | -6.5 | -1.5 |
0x2 | 82.25 | 20 | 79 | -5 | -6 | -1 |
0x4 | 82.5 | 20.5 | 79 | -4.5 | -6 | -1.5 |
0x6 | 82.75 | 21 | 79.5 | -4 | -5.5 | -1.5 |
0x8 | 83 | 21 | 80 | -4 | -5 | -1 |
0xA | 83.25 | 21.5 | 80.5 | -3.5 | -4.5 | -1 |
0xC | 83.5 | 22 | 81 | -3 | -4 | -1 |
0xE | 83.75 | 22.5 | 81.5 | -2.5 | -3.5 | -1 |
0x30 | 84 | 22.5 | 82 | -2.5 | -3 | -0.5 |
0x32 | 84.25 | 23 | 82 | -2 | -3 | -1 |
0x34 | 84.5 | 23 | 82.5 | -2 | -2.5 | -0.5 |
0x36 | 84.75 | 23.5 | 83 | -1.5 | -2 | -0.5 |
0x38 | 85 | 24 | 83.5 | -1 | -1.5 | -0.5 |
0x3A | 85.25 | 24.5 | 83.5 | -0.5 | -1.5 | -1 |
0x3C | 85.5 | 24.5 | 84 | -0.5 | -1 | -0.5 |
0x3E | 85.75 | 25 | 84.5 | 0 | -0.5 | -0.5 |
0x20 | 86 | 25.5 | 85 | 0.5 | 0 | -0.5 |
0x22 | 86.25 | 25.5 | 85 | 0.5 | 0 | -0.5 |
0x24 | 86.5 | 26 | 85.5 | 1 | 0.5 | -0.5 |
0x26 | 86.75 | 26.5 | 86 | 1.5 | 1 | -0.5 |
0x28 | 87 | 26.5 | 86.5 | 1.5 | 1.5 | 0 |
0x2A | 87.25 | 27 | 87 | 2 | 2 | 0 |
0x2C | 87.5 | 27.5 | 87 | 2.5 | 2 | -0.5 |
0x2E | 87.75 | 28 | 87.5 | 3 | 2.5 | -0.5 |
下一个任务是找到增益和失调校准参数。检查 Δ (°C) 列并找到值最接近零的单元格。在这种情况下,增益设置为 87 和 87.25 的两行包含零。这对应于零斜率,这意味着增益误差可以忽略不计。接下来,检查T犯 错(°C)这些行的值,然后选择包含可使用偏移寄存器减去的误差值的行。在该示例中,选择偏移误差为 2 的行,以便偏移寄存器值 '001' 可以将其抵消。
从失调和增益寄存器获得的值现在可以加载到应用电路中使用的MAX16031监视器的EEPROM配置寄存器中。每次都可以使用相同的值,从而产生合理的精度。
为了提高精度,可以在电路板测试时为每个单元设置增益参数。在设备附近放置一个精确的热电偶并测量温度。调整增益寄存器内容,直到MAX16031温度与测量温度匹配。
审核编辑:郭婷
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