磁性随机存取存储器(MRAM)制造工艺

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磁性随机存取存储器(MRAM)制造工艺

磁性隧道结(MTJ)通常是由两层铁磁材料中间夹着薄绝缘屏蔽(MgO 或Al2O3)层组成的,它可以实现双稳态隧道磁电阻 ( Tunneling Magneto - Resistance, TMR),此特性可用于存储逻辑数据“1”或“0”。

由于 MTJ 中的“自由”(Free)铁磁层和“钉扎”(Pinned)铁磁层的自旋磁状态“平行”或“反平行”,所以TMR 会呈现出电阻小或大的双稳态,如 CoFeB /。MgO / CoFeB 结构的 MTJ 能达到约 500% 的TMR 电阻比。

MRAM 存储单元由一个选通场效应晶体管(Selector)和一个 MTJ 组成,称为 1T-1MTJ 存储单元。“自由” (Free)铁磁层的自旋磁状态可以被存储单元邻近的磁场或由被选通的 MTJ 通过直流电从“钉扎”铁磁层带入的自旋转移矩 (Spin Transfer Torgue, STT)转换或写入。

用STT转换或写入不仅快速(小于 10ns),而且写入电流密度较低(小于 10^6 / cm^2),数据保留时间长(大于10年)。STT- MRAM 可以微缩存储单元尺寸(6F^2,其中F是指该工艺节点的最小关键尺寸),而且存储次数高达约 10^14。STT-MRAM 目 前业界积极推动的嵌入式 NVM 存储器,并在未来有望取代DRAM、SRAM 和闪速存储器。图示为 MRAM 的制造工艺流程。

DRAM








审核编辑:刘清

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