本应用笔记有助于从使用DS2152单芯片收发器(SCT)的电流设计过渡到使用DS21352或DS21552 SCT的设计。这两款器件兼容,只需对硬件和软件稍作修改即可更换DS2152。迁移到DS21352或DS21552的一些好处是,这些器件具有更高级的HDLC,支持JTAG测试功能,多个器件可以在一条高速总线上通信,工作电压为3.3 V,容限I/O为5.0 V。为了利用这些新功能,应用笔记概述了具体的硬件和软件差异。它还给出了DS21352和DS21552数据资料的特定部分,其中提供了有关可用新功能的更多信息。
1. 简介
本应用笔记重点介绍DS21352/DS21552与DS2152之间的差异。DS21352/DS21552是DS2152的超集,保持一致的引脚排列和寄存器设置。DS2152的所有原始特性都得以保留,为DS2152创建的软件可以毫不费力地转移到DS21352/DS21552上。DS21352和DS21552在功能上是等效的,唯一的区别是所需的电源电压——DS21352工作在3.3V,DS21552工作在5V。
2. 附加功能
新功能 | 数据表部分 |
HDLC 控制器 缓冲区深度从 16 字节增加到 64 字节 添加了 DS0 上的 HDLC 功能 |
15 |
JTAG | 19 |
8 Mbps 交错式 PCM 总线操作 | 20 |
3.3V工作,5V容限I/O(DS21352) | 23 |
3. 寄存器定义的变更
在实现DS21352/DS21552的新功能时,优先考虑保留DS2152的寄存器映射,以便于从现有DS2152设计迁移代码。本节重点介绍DS21352/DS21552的寄存器增加和差异。
3.1 新功能寄存器用法
突出显示与新功能相关的特定寄存器。每个项目都可以在数据手册中所列部分下找到。
注册 | 地址 | 描述 |
RDC1 | 90小时 | 接收 HDLC DS0 控制寄存器 1 |
RDC2 | 91小时 | 接收 HDLC DS0 控制寄存器 2 |
TDC1 | 92小时 | 传输 HDLC DS0 控制寄存器 1 |
TDC2 | 93小时 | 传输 HDLC DS0 控制寄存器 2 |
注册 | 地址 | 描述 |
HB。 | 94小时 | 交错总线操作 |
3.2 现有寄存器中的位分配更改
突出显示DS21352/DS21552中与DS2152不同的位位置。
注册 | 位# | DS2152 符号 | DS2152 描述 | DS21352/DS21552符号 | DS21352/DS21552说明 |
CCR3 | 7 | ESMDM |
弹性存储 最小延迟 模式 |
雷斯姆德姆 |
接收弹性存储 最小延迟模式 |
CCR3 | 6 | ESR | 弹性存储重置 | TCLKSRC | Tx 时钟源选择 |
CCR3 | 0 | N/A | 未分配 | TESMDM |
Tx 弹性存储 最小延迟模式 |
CCR6 | 6 | N/A | 未分配 | RESALGN | Rx 弹性存储对齐 |
CCR6 | 5 | N/A | 未分配 | RESALGN | Tx 弹性存储对齐 |
CCR7 | 5 | N/A | 未分配 | RESR | 接收弹性存储重置 |
CCR7 | 4 | N/A | 未分配 | TESR | Tx 弹性存储重置 |
4. 设备引脚输出的变化
4.1 软件包类型
DS2152和DS21352/DS21552均采用100引脚14 x 14 x 1.4mm LQFP封装。列出的值适用于正文尺寸。
4.2 器件引脚差异
针# | DS21352/DS21552 | DS2152 | 描述 |
2 | JTMS | 数控 | IEEE 1149.1 测试模式选择 |
4 | JTCLK | 数控 | IEEE 1149.1 测试时钟信号 |
5 | JTRST | 数控 | IEEE 1149.1 测试重置 |
7 | JTDI | 数控 | IEEE 1149.1 测试数据输入 |
10 | JTDO | 数控 | IEEE 1149.1 测试数据输出 |
针# | DS21352/DS21552 | DS2152 | 描述 |
36 | CI | NC | Carry In |
54 | CO | NC | Carry Out |
针# | DS21352/DS21552 | DS2152 | 描述 |
76 | FMS | NC | 成帧器模式选择 |
审核编辑:郭婷
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