Sigma-Delta ADC概述及原理

模拟技术

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描述

1Sigma-Delta ADC

Sigma-Delta ADC一般由模拟调制器和降采样抽取滤波器组成,以远高于Nyquist频率的采样频率对输入信号进行采样,采样后的信号经调制器处理后转换为低位高码率的数字信号流。

在此过程中,调制器完成了采样信号的粗量化,并且利用噪声整形技术将低频噪声搬移到信号带宽外的高频处。 调制器输出的数字信号经过降采样抽取滤波器处理后,信号带宽外的高频噪声被滤除,ADC输出速率降为Nyquist频率,可以极大的提升系统信噪比以及动态范围。

此外,由于降采样抽取滤波器完全由数字电路实现,其设计可以充分利用电子设计自动化(Electronics Design Automation,EDA)技术的优势,缩短设计周期并且在先进工艺下可以有效降低芯片面积与功耗。

2Sigma-Delta ADC原理

过采样

图1

Sigma-Delta ADC的概念在1962年由Yasuda和Murakami首次提出,系统框图如图1所示,主要包括抗混叠滤波器、环路滤波器、量化器、反馈DAC和数字抽取滤波器,其中Sigma-Delta调制器是核心部分,其决定着系统所能实现精度的上限。 下面详细介绍Sigma-Delta调制器中过采样和噪声整形关键技术的原理。

过采样原理

过采样技术在1946年被首次提出,是指用远大于Nyquist频率的采样频率对输入信号进行采样,用过采样率(OverSampling Ratio,OSR)来衡量过采样程度。 OSR与信号带宽fb之间的关系为:OSR=fs/(2fb)。

过采样技术会给ADC带来两个优势:首先,较高的采样频率会降低前级抗混叠滤波器的设计要求,过渡带可以稍微平滑; 其次,过采样技术可以提高信噪比。 当采样频率提高时,量化噪声的功率谱密度Se(f)会随之降低,从而提高带宽内的信噪比,如图2所示。

过采样

图2 (a) Nyquist ADC频谱 (b)过采样ADC频谱

对于过采样ADC,量化噪声功率谱密度幅值表示为:

过采样

其信号带宽内的量化噪声(In-Band-Quantization-Noise,IBQN)为:

过采样

可以看出,过采样技术可以有效降低ADC信号带宽内的量化

噪声能量。 若只考虑量化噪声,ADC能实现的最大信噪比为:

过采样

可以看出,OSR每提高一倍,ADC的信噪比可以增大3dB。 因此,过采样是Sigma-Delta ADC实现高精度的一个重要原因。

噪声整形原理

过采样技术能有效降低信号带宽内的量化噪声,但仅通过增大采样频率来提高ADC的信噪比,会大幅度增加功耗,提高电路设计难度。 因此,Sigma-Delta ADC的另一种精度提升技术——噪声整形技术于1954年首次提出,基本原理是改变量化噪声在频谱上的分布,将低频噪声搬移到高频,经后级数字抽取滤波器可以滤除信号带宽外的大部分噪声,从而提高带宽内的信噪比,如图3所示。

过采样

图3 过采样噪声整形ADC频谱

噪声整形技术是通过利用积分器来构建具有高通特性的环路滤波器,对量化噪声进行整形,下面以一阶Sigma-Delta调制器为例介绍噪声整形原理,结构如图4所示。 离散时间积分器在z域中的传输函数由下式表示。

过采样

图4 单环一阶Sigma-Delta调制器原理图

根据图4可以推导出一阶Sigma-Delta调制器的系统传输函数为:

过采样

其中,STF(Signal Transfer Function)为信号传输函数,NTF(Noise Transfer Function)为噪声传输函数,E(z)为量化噪声。 为得到STF(z)和NTF(z)的幅频特性,将z=e^sTs=e^j2πf/fs代入可得:

过采样

由以上俩式可以看出,STF(z)在幅值上为1,输入信号可以无衰减的传输。 而NTF(z)的幅度曲线是一个正弦函数,低频部分的量化噪声会被整形,如图3所示。 经过噪声整形后,信号带宽内量化噪声总功率为:

过采样

对于绝大数的Sigma-Delta调制器,为充分发挥过采样的优势,一般会选择较大的过采样率,即OSR>>1,因此,πf*Ts<<1,上式可以近似为:

过采样

经过噪声整形后,一阶Sigma-Delta调制器可实现的最大信噪比为:

过采样

从上式可以看出,经过噪声整形后,OSR每提高一倍,ADC的信噪比可以提高9dB,有效位数提高1.5bit。 对于L阶Sigma-Delta调制器来说,仅考虑量化噪声,调制器能达到的最大信噪比为:

过采样

对于L阶调制器,OSR每提高一倍,ADC的信噪比可以提高(6L+3)dB,有效位数提高(L+0.5)bit。 所以,噪声整形技术对于提升Sigma-Delta调制器性能起到了非常关键的作用。

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