LCR测试仪测量原理

随着现代模拟和数字技术的发展，早已经淘汰了LRC电桥这种测量方法，但LCR电桥的叫法一直沿用至今。如果是使用了微处理器的LCR电桥则叫LCR数字电桥。一般用户又称这些为：LCR测试仪、LCR电桥、LCR表、数字电桥、LCR Meter等等。

电桥测试仪测量原理

Vx与Vr均是矢量电压表，Rr是理想电阻。自平衡电桥的意思是：当DUT(Device Under Test)接入电路时，放大器的负反馈配置自动使得OP输入端虚地。Vx准确测定DUT两端电压(DUT的Low电位是0)，Vr与Rr测得DUT电流Ix，由此可计算Zx。

HP4275的测试端Hp，Hc，Lp，Lc(下标c代表current， 下标p代表Potentail)，Guard(接地)的配置可导致测试的误差的差异。

提高精度的方法是：

1、Hp，Lp，Hc，Lc尽量接近DUT;

2、减小测试电流Ix的回路面积&磁通量(关键是分析Ix，要配合使用Guard与Cable小化回路面积);

3、使用Gurard与Cable构建地平面中断信号线间的电场连接，虽然会增加信号线的对地电容(对地电容不影响测试结果)，但是会减少信号线的互容。

Guard与Cable的对地寄生阻抗(Zhg，Zlg) 不影响测试结果，电桥平衡时Zlg的两端电压是0，流向Rr的电流不会被Zlg分流，Zhg的分流作用不影响Hp的电压测量。

LCR测试仪一般用于测试电感和电容。测量步骤如下：

设置测试频率

测试电压或者电流水平

选择测试参数，比如Z、Q、LS(串联电感)、LP(并联电感)、CS(串联电容)、CP(并联电容)、D等

仪器校准，校准主要进行开路、短路校准，的仪器要进行负载校准

选择测试夹具

夹具补偿

将DUT放在夹具上开始测试。

审核编辑 黄宇