显微光电流光谱系统

随着二维材料研究的蓬勃发展，其材料性能及器件工作机制都与传统半导体材料和器件有很大差异，光电流成像显微系统成为研究材料性能和检测材料光电流强度分布的重要设备，既可以用于测量光电材料的光电响应信号，又可以表征材料的光电性质。

产品特点：

全自动化

200nm-12000nm波段全响应

多维度测量

电学仪表高度兼容

高稳定性，操作便捷

光电流强大的综合测试能力

系统基本功能：

1）I-V测试；

2）I-T测试；

3）响应时间测试；

4）噪声测试；

5）光电流mapping；

6）反射谱测试。

托托科技致力于开发具有高性能、高稳定性和高灵活度的微区光电流成像显微系统，系统采用双层平台机构，空间大，提供更多组合可能性，可搭配激光合束模组、高精度 XY 运动台、电磁场系统、低温恒温系统、锁相放大器、光谱仪系统等。系统兼容磁场、电场、低温，实现对二维材料磁、光、电、温度、力的调制。我们提供完整的NI Labview 控制程序以方便用户的使用。软件包将所有系统中的测试设备统一控制，可以实现四种变量任意组合的光电流测试，即可以一次性测量不同变量下的光电流信号。

 

 

 

 

 

 

审核编辑 黄宇