安泰服务利用泰克MDO4104-6测试高速数据引起的EMI问题

电磁兼容(EMC)包括电磁干扰(EMI)和电磁抗扰度(EMS)两部分。简而言之，EMI是电子设备对外部电磁环境的干扰，EMS是电子设备抵抗外部电磁环境干扰的能力。无论是EMI还是EMS，都包括辐射和传导两部分。EMC认证是任何电子设备必须遵从的，EMI是EMC中的重要部分。

EMI测试包括如下几类：1.EMC认证机构在EMC实验室进行认证测试2.企业质检部门利用EMI接收机或高指标频谱仪进行EMI预认证测试3.产品研发、调测部门利用频谱仪进行EMI诊断4.产品研发调测部门利用示波器测试电源纹波、时钟抖动等特性，因为它们是产生EMI的因素之一。

前段时间，西安航天城某公司通过朋友介绍，联系到我们，表示需要测试公司研发的某电子设备电路板，经沟通了解，我们发现该公司设备自身工作并不正常，电路板内FPGA处有较强的EMI 辐射，影响通信质量。

我们为该公司推荐了泰克MDO4104-6+近场探头进行EMI测试。对于幅度随时间变化的频谱，MDO的优势在于调制域分析，为此我们打开MDO幅度随时间变化曲线显示功能，用MDO射频功率触发得到如下测试结果：

由于该电路板EMI呈周期性变化，既然FPGA的设计难以在短时间内更改，我们能否通过有效的控制手段，让有用的射频信号在突发周期间隔中底噪较低的时刻发射，而在突发幅度时刻不发射有用信息？

客户认为此方法可行。底噪呈周期性变化，必定与电路板中某种控制信号相关，虽然我们已经测试出突发底噪变化的周期，但如果我们不知道这种周期与哪种控制相关，上述设想就难以实现。由于客户对其内部控制时序相当熟悉，94uS的周期刚好是该电路板高速 USB 信号传输控制周期。为了验证这一假设，我们将MDO示波器通道1接到高速USB 控制测试点，同时测试射频频谱，得到如下结果 

以上测试结果充分证明了通道1中的高速USB信号与底噪突发抬升的规律相同，证明二者相关。高速USB的时序由嵌入式程序控制，因此只要在程序中控制射频在高速USB信号发出后延迟50uS发射，发射持续时间小于40uS即可。

最终，我们利用MDO跨域分析及调制域分析功能，成功地确认EMI与高速USB信号相关，通过时序控制，跨域有效避免以前难以解决的问题，帮客户解决了重新设计FPGA和产品的难题，节约了时间和经费，获得了客户好评。

审核编辑 黄宇