Agilent安捷伦4155A/4155B半导体参数分析仪

安捷伦4155A半导体参数分析仪
4155A 是安捷伦的半导体参数分析仪。半导体参数分析仪是用于各种测量功能的多合一工具。半导体参数分析仪可以测量和分析多种电子设备、材料、有源或无源元件、半导体或任何其他类型的电子设备的电气特性。工程师使用这台测试设备来监测不同类型设备中的电流和电压响应附加的功能：

I：1 fA 至 100 mA（20 fA 偏移精度）
V：1 微 V 至 100 V
采用直流或脉冲模式的全自动 IV 扫描测量，可扩展至 6 个 SMU
同步压力/测量功能
两个高压脉冲发生器单元 (+/- 40 V)
时域测量：60 微秒 - 可变间隔高达 10,001 点
易于使用的旋钮扫描，类似于曲线跟踪器
自动分析功能
内置安捷伦/惠普仪器 BASIC
触发 I/Q 能力
Agilent 4155A 半导体参数分析仪提供高分辨率/准确度和宽范围；I：1 fA 至 100 mA（20 fA 偏移精度），V：1 微 V 至 100 V，采用直流或脉冲模式的全自动 IV 扫描测量，可扩展至 6 个 SMU，同步应力/测量功能，两个高压脉冲发生器单元 (+/- 40 V)，时域测量：60 微秒 - 可变间隔，最多 10,001 个点，易于使用：类似于曲线跟踪器的旋钮扫描，自动分析功能和自动化：内置 HP仪器 BASIC，触发 I/Q 功能。

审核编辑 黄宇