如何解决pogo pin测试出现不稳定现象？

已知2022年11月11日，知名电商平台上苹果、荣耀、华为的品牌销售额始终排名前三；双十一手机的火爆售卖暗示了如今手机的需求越来越高，如今2023.6.18网购狂欢日为时不远！相关生产商家/厂家的工作量会越来越大。
众所周知出厂前要对LCD/OLED屏幕、3C锂电池、手机摄像头等重要部件进行测试，而连接器测试模组在其中发挥着关键的作用。而深圳凯智通创新研发了一款大电流BTB/FPC弹片微针模组blade pin，性能强悍，远超测试探针。

★传统的测试探针pogo pin在测试过程中出现不稳定现象几率很高；
1.测试不稳定，pogo pin本身是多配件结构，接触点多，易产生接触不稳定、阻抗一致性低等问题；
2.测试时探针经常性扎歪，然后需要人员重新进行探针调整，浪费了大量的时间和人工成本；
3.卡PIN：同样因为由多结构组合而成，这个在pogo pin身上是避免不了的问题；
4.极易断针：随着pitch的缩小，pogo的针径也越来越小，使得探针的断针风险逐渐增加；
5.使用寿命很短：探针的使用寿命均在5W次以下，并容易磨损，使用次数到一定的寿命后易导致接触不良、误测等现象；

手机作为人们日常使用最多的通讯工具之一，其质量是十分重要的，尤其在LCD/OLED屏幕、3C锂电池、手机摄像头等重要部件上。以往的测试探针pogo pin并不能良好应对，存在着许多不稳定现象。凯智通创新研发的这款大电流弹片微针模组能够解决测试不稳定的现象，提供了一个全新的解决方案。

审核编辑 黄宇