拔电池时损坏充电IC的原因分析

上次在调试一块电路板的硬件，拔电池很容易就会把充电IC损坏的问题，现在已经找到了一个解决方法。就是在电池的正负极并了一个二极管，拔电池就没有出现充电IC被损坏的情况了。

上次在分析充电IC损坏原因的时候，是这样分析的。电感L2和二极管D17在这里构成的是boost型的开关电源电路。当拔电池时，接电池这一侧的电感PIN脚没有续流二极管，没有泄放回路，电感的感应电动势比较大，从而把充电IC的管脚击穿损坏。

但是，现在想想，上面的分析不是很对，说服力不够，没有数据支撑。现在，我想从另外的角度，通过数学计算的方法，计算出具体的数据，来解释充电IC被损坏的原因。

分析这个问题时，我们要分两种情况来看。充电IC的8脚是Boost型的开关电源的SW节点，需要分SW节点断开和闭合两种情况来分析。

情况一：当拔电池时，SW节点刚好处于断开的状态，电路就等效成以下电路。

此时，电感对10uF和100nF电容充电，直到电感储存的电能放完。

情况二：当拔电池时，SW节点刚好处闭合的状态，电路就等效成以下电路。

此时，电路形成了一个无阻尼放电振荡电路。那么可以根据阻尼振荡的相关公式算出最大放电电流，由下图所示。

由此可见，当拔电池时，电路刚好处于第二种情况，电路中的最大放电电流达到5.5A(当电池为4.2V时，最大电流达到6.3A)，全部流经TP5400的第8脚。又由下图的TP5400内部集成电路，可以知第8脚是一个mos管的漏极，就是开关电源的开关管，集成到芯片上了。当这个MOS导通时，承受不了这么大的电流时，就会被损坏，出现短路现象。这么就可以解释得通，为什么每次充电IC损坏，测量IC的第8脚都是短路的。

为什么在电池的正负极并了一个开关管后，拔电池充电IC就不会损坏了呢？因为并了二极管后，二极起了续流的作用，电路等效成以下电路。

二极管和电感构成了回路，并且电感储存的能量通过二极管快速消耗掉，所以不会对充电IC造成损害，也就是拔电池后，不会再出现充电IC被损坏的现象。

　　审核编辑：汤梓红