VXInstruments测试产品
我们注于设计和生产高性能测量模块,重点在产品精度、测量速度、隔离性能方面;产品均完成 24/7;不间断测试;模块化设计的思路便于灵活满足需求;定制服务。产品总装和测试在自己的工厂完成确保产品的高质量。
PXI 产品系列
任意波形发生器、数字化示波器
电源测量单元(SMU)
半导体测试系统
外设模块 USB3
高功率产品系列
电源测量单元(SMU)
HC/HV Pulse Sources
高速数字万用表
VXInstruments半导体测试解决方案
MOSFET器件静态参数测试和动态特性测试
静态参数主要是指本身固有的,与其工作条件无关的相关参数,主要包括:门极开启 电压、门极击穿电压,集电极发射极间耐压、集电极发射极间漏电流,以及以上参数的相关特性曲线的测试。
利用PXI/PXIe带隔离功能的数字化仪和PXI/PXIe SMU模块配合HC电源设备实现IGBT半导体器件功能测试、特性曲线测试和器件on、off、standy状态性能测试。利用VXInstruments带隔离测试设备减少噪声信号干扰,可选通更小的量程范围,提高测试精度;降低系统中线缆以及分布地等带来的测试影响;提供更好的信号工模抑制比,可实现待测件任意点间的信号测量。
VXInstruments汽车电子VRS仿真解决方案
VRS(可变磁阻传感器),把发动机的转速信号转变为频率信号和幅度信号(某型号VRS传感器在齿轮转速是3km/h时,输出信号幅值1v,频率31Hz,当转速是100km/h时,输出信号幅值7v,频率1037Hz ),可仿真这类传感器来验证控制器单元设备各项指标功能。
此应用可替代真实传感器,可在不同系统间重复利用,不需要真实传感器工作的环境; 可避免测试设备和真实传感器之间的连线,使测试系统更整洁、紧凑;传感器的仿真和控制都可以利用测试系统配备的计算机控制、编程,形成整套测试软件。
结束语
我们鼓励您与我们联系,并与我们的工程团队详细讨论您的测试和测量应用。VXInstruments可以提供量身定制的测量仪器和测试系统解决方案,以满足特定的应用需求。
北京汉通达科技主要业务为给国内用户提供通用的、先进国外测试测量设备和整体解决方案,产品包括多种总线形式(台式/GPIB、VXI、PXI/PXIe、PCI/PCIe、LXI等)的测试硬件、相关软件、海量互联接口等。经过二十年的发展,公司产品辐射全世界二十多个品牌,种类超过1000种。值得一提的是,我公司自主研发的BMS测试产品、芯片测试产品代表了行业一线水平
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