什么是自动测试设备（ATE）？如何进行自动化测试？

 

 

    在过去，大型生产环境和实验室是进行研发的主要场所，这导致了市场上大多数都是全功能台式设备。然而，如今越来越多的测试和验证团队正在寻找更便携、更经济高效的解决方案，他们不需要复杂的GPIB布线和专用软件。一般来说，如果没有专业技术人员，自动测试设备（ATE）的调试会很困难，而现在，测试工程师可以体验可连接常用软件平台API的编程组件的灵活性。

 

现状

    ATE可以是利用少量设备的简单测试，也可以是大型复杂测试，包括探测站、气动自动化、以及机器人自动化等。与传统的半自动或手动测试相比，PC驱动的有源组件可以提供巨大的优势。

 

 

 

    在射频领域，矢量网络分析仪（VNA）或频谱分析仪等测试设备的接收端口数量有限，需要增加对设置的物理调整次数，以获得全面测试被测多端口设备（DUT）所需的所有探测排列。所有这些测试设置排列不可避免地增加了成本和时间，例如，测试共有9个端口的8路RF交换机需要大量的测试迭代来收集全部81个S参数。如果没有自动开关，该测试可能会耗费大量人力。通过预先编程的内部开关排列测试DUT的每个单独S参数，标准VNA的2-4个端口足以在一次测试迭代中测试所有参数。

 

优势

    常用的射频组件包括移相器、射频开关和数字衰减器，以及一些更复杂的测试设备，如VNA、信号发生器、脉冲发生器和功率计。通常，射频组件需要对特定输出进行手动控制，测试设备数据需要进行重新格式化，以便用于分析和共享数据。

    例如，数字衰减器传统上由晶体管-晶体管逻辑（TTL）控制，其中低电压产生0的逻辑电平，高电压产生1的逻辑电平。这些逻辑电平决定了数字衰减器中用于产生所需衰减的路径。这种方法需要复杂的编程、TTL驱动程序和大量的互连。而类似虹科数字衰减器这样的USB设备，可以消除这种复杂性。它的衰减级别可以直接编程，无需TTL连接，只需一个USB连接即可。

 

 

    通常情况下，测试可能需要工程师监控和调整各种各样的输出，以实现要求，跟踪所有旋钮、按钮、适配器和插头有时可能会容易出现人为错误。虹科提供了软件平台和操作指南，可以简化测试流程，更容易在一个控制器、笔记本电脑或计算机上进行跟踪，同时记录和分析数据的能力有助于设计和测试工程师轻松评估DUT性能。

    虹科提供可编程USB驱动的射频仪器，它们具有图形用户界面（GUI）、Windows dll文件、Linux和labVIEW兼容的驱动程序。虹科提供的USB驱动的信号发生器、数字衰减器、RF开关和移相器等设备，几乎可以成为任何自动测试设置的关键一环，小巧的尺寸也可以为那些电缆杂乱的测试环境提供更多的操作空间。

    虹科HK-LDA906V-8数字衰减器是一种高精度、双向、8通道阶跃衰减器，它提供从200-6000MHz的校准衰减，步长为0.1dB，在90dB的控制范围内，典型精度<0.25 dB。该数字衰减器是一种易于携带的USB供电设备，其尺寸适合ATE应用的单个机架单元，可以用于WiMAX、3G、4G、5G、LTE、DVB和微波无线电衰落模拟器，以及工程和生产测试实验等领域。

特征

• 可靠且可重复的固态数字衰减
• 包括GUI、Windows和Linux SDK、LabVIEW驱动程序
• 可编程扫描衰减和衰减曲线
• 直接从PC或自供电集线器操作多台设备
• 易于携带的USB供电设备
• 尺寸适合ATE应用的单个机架单元

应用

• WiMAX、3G、4G、5G、LTE、DVB、微波无线电衰落模拟
• 工程/生产测试
• 自动测试设备（ATE）