影像测量仪可以测高度尺寸吗?

描述

CH系列影像测量仪针对接触式测量无法实现接触的特征,它可以通过光学放大及光强调节进行测量,如微型特征,深槽内特征及接触易变形材料或薄件等,具有测量手段多、灵活性强、非接触等特点。在卡尺、角度尺难以测到的部位,都可以通过光学放大及光强调节进行测量。

 

测量仪器

 

影像测量仪可以测高度尺寸吗?当然可以。

 

CH系列影像测量仪是非接触式测高,可以选择Z轴自动的机型,使用Z轴自动对焦来测高,既方便又能减少人为操作的误差,保证任何人测量的结果一致。以非接触式的光学测量为主,接触式测量为辅,各传感器的快速切换,可以进行全且准的测量任务。光学测量针对接触式测量无法实现接触的特征,可通过光学放大及光强调节进行测量,如微型特征,深槽内特征及接触易变形材料或薄件等。

 

测量仪器

 

CH系列影像测量仪6.5X电动变倍高分辨率镜头和大视野镜头组合测量,表面光、透射光、同轴光分段编程控制,铸就强大的毛边、弱边抓取功能,清晰呈现工件真实边缘,实现精准测量。

 

测量仪器光学测头平面度测量

 

测量实例

测量仪器电路板测量

 

测量仪器手提电脑键盘测量

 

测量仪器陶瓷元件平面度测量

 

 

 

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