电子元器件行业高低温循环试验箱的可靠性检测-贝尔试验设备

描述

  作为知名的可靠性检测设备制造商,我们有许多来自电子元器件行业的客户。我们有非常完美的生产经验。今天,关注我们,了解电子元器件行业高低温循环试验箱的可靠性检测。

  零件是整机的基础。在制造过程中,由于固有缺陷或制造过程控制不当,可能会导致与时间或应力相关的故障。

  为了保证整批电子元器件的可靠性,满足整机的要求,在使用环境中可能出现初始故障的电子元器件必须被淘汰。电子元器件故障率随时间变化的过程可以用“浴缸曲线”描述故障率曲线。初始故障率随着时间的增加而迅速下降。故障率在使用寿命(或意外故障期)基本不变。

  1、高低温循环试验箱用于高温储存

  电子元器件的故障主要是由机体和表面的各种物理化学变化引起的,与温度密切相关。温度升高后,化学反应速度大大加快,故障过程也加快。有缺陷的部件可以及时暴露和清除。

  半导体器件广泛采用高温筛选,能有效去除表面污染.键合不良.氧化层缺陷等是失效机制的器件。通常在最高结温下储存24至168小时。

  高温筛选简单.便宜,可以在许多部件中实现。高温储存后,可以稳定电子元器件的参数性能,减少使用时的参数漂移。合理选择各部件的热应力和筛选时间,防止新的故障机制。

试验箱电子元器件行业高低温循环试验箱的可靠性检测-贝尔试验设备

  2、高低温循环试验箱用于筛选功率和电老化

  在筛选过程中,在热电应力的综合影响下,能够有效的暴露出电子元器件本体和表面的多种潜在缺陷,是可靠性筛选的重要本身。

  各种电子元器件通常在额定功率环境中老化数小时至168小时。有些产品,如集成电路,不能随意改变条件,但可以选择高温工作方法,提高工作温度,达到高应力状态。应适当选择电子元器件的电应力,可等于或略高于额定条件,但不能引入新的失效机制。

  电源老化需要特殊的检测设备,成本高,筛选时间不宜过长。民用产品一般需要几个小时,军用高可靠性商品可以选择100、168小时,航空级部件可选择240小时甚至更长的周期。

  3、高低温循环试验箱的温度循环

  电子设备在使用过程中会遇到不同的环境温度条件。在热胀冷缩的应力影响下,热匹配性能差的电子元器件容易出现故障。温度循环筛选利用极高温和极低温之间的热升冷缩应力,可以有效去除热性能缺陷的商品。电子元器件常用的筛选条件为-55℃~125℃,循环5~10次。

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