电子元器件行业高低温循环试验箱的可靠性检测-贝尔试验设备

　　作为知名的可靠性检测设备制造商，我们有许多来自电子元器件行业的客户。我们有非常完美的生产经验。今天，关注我们，了解电子元器件行业高低温循环试验箱的可靠性检测。

　　零件是整机的基础。在制造过程中，由于固有缺陷或制造过程控制不当，可能会导致与时间或应力相关的故障。

　　为了保证整批电子元器件的可靠性，满足整机的要求，在使用环境中可能出现初始故障的电子元器件必须被淘汰。电子元器件故障率随时间变化的过程可以用“浴缸曲线”描述故障率曲线。初始故障率随着时间的增加而迅速下降。故障率在使用寿命(或意外故障期)基本不变。

　　1、高低温循环试验箱用于高温储存

　　电子元器件的故障主要是由机体和表面的各种物理化学变化引起的，与温度密切相关。温度升高后，化学反应速度大大加快，故障过程也加快。有缺陷的部件可以及时暴露和清除。

　　半导体器件广泛采用高温筛选，能有效去除表面污染.键合不良.氧化层缺陷等是失效机制的器件。通常在最高结温下储存24至168小时。

　　高温筛选简单.便宜，可以在许多部件中实现。高温储存后，可以稳定电子元器件的参数性能，减少使用时的参数漂移。合理选择各部件的热应力和筛选时间，防止新的故障机制。

电子元器件行业高低温循环试验箱的可靠性检测-贝尔试验设备

　　2、高低温循环试验箱用于筛选功率和电老化

　　在筛选过程中，在热电应力的综合影响下，能够有效的暴露出电子元器件本体和表面的多种潜在缺陷，是可靠性筛选的重要本身。

　　各种电子元器件通常在额定功率环境中老化数小时至168小时。有些产品，如集成电路，不能随意改变条件，但可以选择高温工作方法，提高工作温度，达到高应力状态。应适当选择电子元器件的电应力，可等于或略高于额定条件，但不能引入新的失效机制。

　　电源老化需要特殊的检测设备，成本高，筛选时间不宜过长。民用产品一般需要几个小时，军用高可靠性商品可以选择100、168小时，航空级部件可选择240小时甚至更长的周期。

　　3、高低温循环试验箱的温度循环

　　电子设备在使用过程中会遇到不同的环境温度条件。在热胀冷缩的应力影响下，热匹配性能差的电子元器件容易出现故障。温度循环筛选利用极高温和极低温之间的热升冷缩应力，可以有效去除热性能缺陷的商品。电子元器件常用的筛选条件为-55℃～125℃，循环5～10次。