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一种电子产品的可靠性高低，由它的研制，生产，检验，使用各阶段所决定。因此，需要环环紧扣，处处把关。从纵的方面来看，生产部门和使用部门有矛盾又有统一，而使用部门的面是相当广的：从横的方面看，要使生产，使用部门提高可靠性，就要涉及到材料配件，设备仪器等部门。在技术上，除了具备产品本身的设计，制造等专业以外，还要具备诸如可靠性数学，可靠性物理，环境技术，试验分析技术等有关可靠性方面的广泛知识。在组织管理上，则需要和部门协同行动，大至国家一级部门，小到企业单位内部，都要有专门的机构来从事管理，规划，制订方针政策和组织领导等工作。此外可靠性总是还与国家经济制度，管理政策以及国际上的技术政策密切相关。此外，可靠性工程投资大，耗时长，因此，要从社会的总体应用效果来权衡它的经济效果。
 

电子产品的可靠性首先是和规定的条件相关的，同一产品在不同的温度，温度，或者是在不同的额定功率，额定电压的条件下，它的可靠性是不一样的，一般情况下，温度越高，额定负荷越大，产品的可靠性就越低。所谓规定的条件就是指产品所处的环境条件，负荷条件及它的工作方式等等。

 

 

环境条件包括气候环境（温度，湿度，气压，辐射，霉菌，盐雾，风，沙，工业气体等）和机械环境（冲击，振动，离心，碰撞，跌落，摇摆，引线疲劳，变频振动等）负荷条件包括所加电压，电流的大小和它所处的电场条件等等，工作方式双分为连续工作或间断工作等。

 

 

电子产品的可靠性是时间的函数，随着时间的推移，产品的可靠性会越来越低，产品的可靠性是有时间性的，通常在设计产品时就考虑产品的使用期，保险期或有效期等等。

 

 

产品的可靠性与规定睥功能有着极为密切的联系。所谓产品规定的功能，就是指产品的性能指标。如电阻器的阻值，功率，温度系数，精度；电容器的容量，损耗角正切，绝缘电阻，耐压，精度；晶体管的放大倍数，反向漏电流等；电子计算机的运算速度，字长，容量，指令数；雷达的距离分辨力，测角，测速精度，频率范围，脉冲峰值功率，跟踪速度；通信机的频率范围，输出功率，通信距离，调制度，信道，工种，失真度，保密性，兼容性，机动性等。产品的可靠性可以针对产品完成某种功能而言，也可以针对其多种功能的综合而言，因此，在讨论某一具体的产品可靠性以前，首先必须对产品在什么情况下叫做不可靠，在什么情况叫做失效加以规定。

在可靠性工作中，调查环境条件对产品可靠性的影响，以便研究对策，采取有效措施，设计和制造出耐环境的产品，是一项重要的任务。

测试分类

 

 

测试安生产过程分：有老化前测试和老化后测试

 

 

测试安产品类型人：服务器产品、台式机产品、笔机本产品。

 

 

测试安温度分：高温测试、低温测试和常温测试。

 

 

测试安测试类型分：电性能测试和电功能性测试

测试过程

产品UNIT 经传送机传入,再经加热处理到恒定温度,再打入TIU上,以接通电流,在TIU主板上，供给CPU特定的电压，进行测试并采集数据。主要包括针脚的信号采集,(其中PXI在这里,是进行温度信号的采集,反馈给SUMMIT ATC 系统控制,)再经GPIB传送到TESTER,以T2000进行数据分析,最后得出结果,再经GPIB传送到CTSC系统显示,和传送到PCS过程系统控制,PCMD等系统中分析和临控.测试完后,再经传送机传出.

其中每个产品，都有一个周期，会在这个周期内，对规定的产品及数量，针对性测试。

 

 

产品从上个站点下来，在测试站点，对于不同型号的产品，会有针对性的测试方案。如冷、热测试，常温或高温，还有低温。对于同一个种产品，当再次测试时，会针对其问题，下载不同的测试参数，再测。对有疑问的产品，会对所测的产品，几个到这个批次，几个批次，甚至更多的产品，针对性测试。并还会对所测试已合格的产品，对不同批次，产品类型，采用不同的方案抽样检查测试。如再次发现不合格的，会针对所触发的原因，采取措施，如是产品本生的原因引起，会对这对个周期性内的所有产品，拉回重测。

 

 

电性能测试

 

 

性能测试在质量保证中起着重要的作用，它包括的测试内容丰富多样。中国软件评测中心将性能测试概括为三个方面：应用在客户端性能的测试、应用在网络上性能的测试和应用在服务器端性能的测试。通常情况下，三方面有效、合理的结合，可以达到对系统性能全面的分析和瓶颈的预测。

应用在客户端性能测试的目的是考察客户端应用的性能，测试的入口是客户端。它主要包括并发性能测试、疲劳强度测试、大数据量测试和速度测试等，其中并发性能测试是重点。

并发性能测试的过程是一个负载测试和压力测试的过程，即逐渐增加负载，直到系统的瓶颈或者不能接收的性能点，通过综合分析交易执行指标和资源监控指标来确定系统并发性能的过程。负载测试（Load Testing）是确定在各种工作负载下系统的性能，目标是测试当负载逐渐增加时，系统组成部分的相应输出项，例如通过量、响应时间、CPU负载、内存使用等来决定系统的性能。负载测试是一个分析软件应用程序和支撑架构、模拟真实环境的使用，从而来确定能够接收的性能过程。压力测试（Stress Testing）是通过确定一个系统的瓶颈或者不能接收的性能点，来获得系统能提供的最大服务级别的测试。

 

 

并发性能测试的目的主要体现在三个方面：以真实的业务为依据，选择有代表性的、关键的业务操作设计测试案例，以评价系统的当前性能；当扩展应用程序的功能或者新的应用程序将要被部署时，负载测试会帮助确定系统是否还能够处理期望的用户负载，以预测系统的未来性能；通过模拟成百上千个用户，重复执行和运行测试，可以确认性能瓶颈并优化和调整应用，目的在于寻找到瓶颈问题。电性能测试是通过自动化的测试工具模拟多种正常、峰值以及异常负载条件来对系统的各项性能指标进行测试。负载测试和压力测试都属于性能测试，两者可以结合进行。通过负载测试，确定在各种工作负载下系统的性能，目标是测试当负载逐渐增加时，系统各项性能指标的变化情况。压力测试是通过确定一个系统的瓶颈或者不能接收的性能点，来获得系统能提供的最大服务级别的测试。

 

 

电功能测试

功能测试是一种用来测试半成品/成品或生产环节中的某一个工序，以此来判断被测对象是否达到了初始设计者目的。

 

 

功能测试能够检测大量实际重要功能通路及结构验证，确定没有硬件错误，以弥补前面测试过程遗漏的部分。这需要将大量模拟/数字激励不断加到被测单元上，同时监测同样多数量的模拟/数字响应，并完全控制其执行过程。

功能测试可在产品制造生命周期不同阶段应用，首先是工程开发阶段，在系统生产验证前确认新产品功能；然后在生产中也是必须的，作为整个流程的一部分，通过昂贵的系统测试降低缺陷发现成本(遗漏成本)；最后，在发货付运阶段也是不可缺少的，它可以减少在应用现场维修的费用，保证功能正常而不会被送回来。

测试环境条件

环境条件是指产品在贮存，运输和工作过程中可能遇到的一切外界影响因素。配置测试环境是测试实施的一个重要阶段，测试环境的适合与否会严重影响测试结果的真实性和正确性。测试环境包括硬件环境和软件环境，硬件环境指测试必需的服务器、客户端、网络连接设备以及打印机/扫描仪等辅助硬件设备所构成的环境；软件环境指被测软件运行时的操作系统、数据库及其他应用软件构成的环境。　一个充分准备好的测试环境有三个优点：一个稳定、可重复的测试环境，能够保证测试结果的正确；保证达到测试执行的技术需求；保证得到正确的、可重复的以及易理解的测试结果。

 

 

1、气候条件

气候条件约可分为温度，湿度，气压，风，雨，冰，露，霜，沙尘，盐雾，油雾，游离气体等，气候条件对电子产品的主要影响是使产品的电性能改变，机械变形，材料腐蚀等。

2、机械条件

 

 

机械条件约可分为振动，冲击，离心，碰撞，跌落，摇摆，静力负荷，失重，声振，爆炸，冲击波等，主要机械条件对电子产品的影响。

 

 

3、辐射条件

 

 

辐射条件包括太阳辐射，核辐射，宇宙射线辐射等等。

 

 

4、电的条件

 

 

电的条件包括电场，磁场，闪电，雷击，电晕，放电等。

 

 

5、生物条件

 

 

生物条件包括昆虫，霉菌，啮齿动物等

 

 

6、人为因素

 

 

人为因素包括使用，维护，包装，保管等

 

 

北京汉通达科技有限公司代理的联合仪器(United Instruments)的芯片自动测试系统是基于PXI架构的开放式平台，可以根据客户需求定制测试方案，灵活开放的PXI架构可以实现目前芯片测试的扩展功能，可根据需求兼容不同厂商的仪器，不必受限于单个ATE厂商的有限产品。是针对数字芯片、逻辑芯片、传感器、MCU单片机、MEMS、消费类电子芯片、电源芯片等芯片测试的高集成度自动测试系统解决方案。

联合仪器芯片测试系列产品包括数字芯片测试系统、MEMS传感器测试系统、PXI板卡（4种）、软件平台（1种）三类。联合仪器(United Instruments)的芯片自动测试系统方案能很好地应用在第三方芯片设计、专业芯片测试、晶圆代工厂、系统集成商、芯片设计商、芯片生产厂商适用，可以实现结构设计，配合工厂机械臂实现大规模芯片测试需求。

在快速变化的市场环境下，设备性能不断升级，测试设备淘汰速度加快，测试成本不断增加。

联合仪器(United Instruments)的芯片测试解决方案的优势如下：

首先，开放式PXI平台架构提供了目前测试所需的灵活性，借助该架构，可以重新配置和扩展测试平台来满足不断提高的测试性能要求，而且可以沿用原先的测试仪器，同时兼容不同厂家的板卡。

其次，可以根据需要轻松更换接口板卡，实现各种硬件资源配置，大幅简化整体测试作业，进一步降低整体测试成本。开放式架构可以很好地兼容ATE，在延长ATE平台使用寿命、控制成本和提高测量功能上有巨大优势