华瑞高推出的TEM小室为芯片类高频电磁兼容测试助力！

 

      近日，根据HuaweiCentral网站的报道，华为自研麒麟A2即将量产，作为麒麟A1的迭代产品，其尺寸为4.3mm×4.4mm，集成了蓝牙处理单元、音频处理单元、低功耗的应用处理器和独立的电源管理单元。适用于无线耳机、头戴式耳机、颈戴式耳机、智能音箱、智能眼镜和智能手表等设备。

 

      按照华为的规划，麒麟A1首发于华为真无线蓝牙耳机FreeBuds 3。它已经广泛用于华为真无线耳塞、无线头戴、颈挂式无线耳机、智能眼镜、智能手表等产品。华为的耳机、手表，大概率都有这款芯片的功劳。所以，不出意外，麒麟A2会在麒麟A1的基础上继续调优、精进，依然会用于耳机、手表等可穿戴设备。

此类小尺寸芯片的电磁兼容性测试主要涉及到以下两个方面：

1） 电磁发射：主要研究 IC 芯片产生的骚扰信号以传导/辐射方式对其它器件的影响。 IC 发射是由于内部快速的电压/电流变化产生的， 这些变化在 IC 芯片内/外部激励出射频电流， 并以传导方式通过芯片管脚在 PCB 上形成传导回路，这些回路可看成发射环天线， 并辐射电场与磁场。

2） 电磁抗扰度：主要研究环境电磁骚扰信号以传导或辐射方式对 IC 芯片的影响。 在外界干扰存在的条件下， 研究 IC 芯片的抗扰能力， 提高其对电磁骚扰的承受能力， 可有效保证集成电路工作的可靠性。

同理， 小尺寸IC芯片的测量标准也分为电磁发射与抗扰度两个方面。

      目前出版的 IEC61697 系列标准与 IEC62132 系列标准分别涉及到 IC 芯片的电磁发射与抗扰度测量。

      深圳市华瑞高电子技术有限公司推出的高频TEM小室HTM-8G，完美的解决了此类小尺寸芯片的电磁兼容性测试。集成电路安装在一个用螺栓固定的测试夹具上，安装完成后，可在9K-8GHZ的范围内进行符合IEC 61967-2/-8、SAE 1752-3和IEC 62132-8的测试。

      我们推出的高频TEM小室同时也可用于抗扰度测试，只需要输入0.1毫瓦的功率就可以实现每米14伏的电场，使得我们的芯片类EMC高频测试不再受到限值。

 

       深圳市华瑞高电子技术有限公司作为一家专业的电磁兼容测试设备厂家，我们有着相关丰富的电磁兼容测试的经验，欢迎致力于电磁兼容测试的朋友多多沟通交流！