季丰2DX-ray分析能力可实现细微缺陷清晰展现

  Dage Quadra7介绍

作为Dage Quadra 系列中前沿的产品，Dage Quadra7拥有出色的亚微米级高分辨率和衬度，可实现细微缺陷清晰展现。

采用高功率（160kV 20W）X射线源技术，相较同类产品（15W）大大提升了X射线通量，在维持小焦点尺寸的同时提高了成像效率、衬度和信噪比。

在10W以内可实现0.1um的分辨率。

配有670万像素的C-MOS平板探测器，几何放大倍数可达2500倍。

 

JIMA卡专用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。

DageQuadra7 JIMA卡实测可达到最高的分辨0.4um。

  失效分析：细微缺陷及T角度观察Via

  失效分析：自动测量孔洞率与球径及数据导出

  特殊能力：辐射累积测试

Dage Quadra7可通过曝光距离、管电压、管功率、暴露时间等参数计算得到样品所受辐射剂量。方便进行辐射累积实验及芯片软失效分析。

剂量单位为拉德（rad），1rad=0.01Gy

GIGA FORCE