准确,可重复的IV / CV测量 - 当精确模型和数据变得关键时
最佳决策取决于最佳数据。
对于几乎所有的器件类型和半导体技术, DC参数测量贯穿于半导体产品开发和生产的每个阶段。它在高级材料研究,工艺特性,器件特性和建模,设计调试,工艺监控和生产晶圆测试发挥着关键作用。
精确且可重复的直流参数测量(IV,CV,脉冲和高功率)可降低不确定性。可靠的结果可加速产品认证并生成更精确的模型和设计工具包,从而使设计师能够更快地向市场提供更具竞争力的产品。
我们以此为目标重新定义了分析测试系统 - 为在片测试提供全新的电气环境。通过消除可能破坏测试结果的环境因素,探针台对于测量仪器确实变得“隐形”。自从1991年第一台MicroChamber探针台问世以来,FormFactor的Cascade探针台系统产品始终具有相同的使命 – 获得最佳数据以做出最佳决策,使客户获得成功
最佳决策取决于最佳数据。对于几乎所有的器件类型和半导体技术, DC参数测量贯穿于半导体产品开发和生产的每个阶段。它在高级材料研究,工艺特性,器件特性和建模,设计调试,工艺监控和生产晶圆测试发挥着关键作用。
精确且可重复的直流参数测量(IV,CV,脉冲和高功率)可降低不确定性。可靠的结果可加速产品认证并生成更精确的模型和设计工具包,从而使设计师能够更快地向市场提供更具竞争力的产品。
我们以此为目标重新定义了分析测试系统 - 为在片测试提供全新的电气环境。通过消除可能破坏测试结果的环境因素,探针台对于测量仪器确实变得“隐形”。自从1991年第一台MicroChamber探针台问世以来,FormFactor的Cascade探针台系统产品始终具有相同的使命 – 获得最佳数据以做出最佳决策,使客户获得成功
测试完整性面临各方面的威胁
大量因素可能会破坏直流电性测试。由于外部环境的影响,电噪声可能出现在数据中 - 例如,来自蜂窝网络,无线电/电视塔和附近电子设备的电磁干扰和射频干扰,以及温度和振动等物理因素。
测试系统内部的因素也会影响结果 - 例如,设计不良的信号路径产生的漏电流,电阻或热电压偏移,材料能量存储以及来自于基本的探针台系统组件的电噪声,如电源,平台电机,温控系统和电脑。
如果管理不当,这些因素会导致数据偏移和整个样本集的统计分布增加,从而严重降低电性能。糟糕的数据是昂贵的 - 重新测试的时间,额外的建模周期,延迟的产品发布以及性能不佳的产品。
测试完整性面临各方面的威胁
高质量数据不会因意外事故而发生
FormFactor经验丰富的设计团队一再提高电性测试的性能标准。不断的创新,与我们尊贵的客户一起精心的研究,开发了大量的高效率的技术套件:EMI / RFI和光屏蔽,电噪声滤波,信号保护,单点接地,噪声去耦,接触电阻降低,电容和电感管理等等。所有这些技术在宽泛的温度范围和全自动操作中都被证明是成功的,其中的挑战呈指数级增长。
对电性测试完整性的细致关注是FormFactor分析探针台系统的独特之处,使客户的成功与数据完整性相结合。
FormFactor引领行业数据完整性
经过成千上万的客户数十年的严格应用实践,这些工具得到了验证,使得FormFactor成为分析探针台系统的全球市场份额领导者。其他厂商可能只是声称测量性能,但是FormFactor可以证实它。请先了解这些技术FormFactor的全球演示中心。
FormFactor提供完整的生态系统,用于收集高质量的在片电性测试数据 - 带有探针台,载物台,探针和电缆的完整解决方案。
DCP-HTR低噪声高温探针
低噪音FemtoGuard三轴高低温载物台
Takumi DC参数小间距探针卡
全新面世 - 全套解决方案
经验丰富的销售,应用和设计工程师随时准备与您一起应对最新的测试挑战。无论是在手动,常温探针台上测试单个样品,还是使用全自动多温度工具管理大批量工程测试,FormFactor都可以快速提供当今快节奏和苛刻的商业环境所需的完整性数据。
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