IS802异常测试步骤

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描述

芯片设计

IS802异常测试

使用仪器:

固纬GPD-4303S

SIGLENT-SDS2354X

福禄克 FLUKE 17B

测试电路:

芯片设计

图1:IS802被测电路 IS802EVM

备注:所有测试项用的同一颗芯片

测试项1:负载短路

测试项1 测试条件1:

VCC=3.3V

EN=3.3V

测试波形:

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图2:VOUT输出波形

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图3:VOUT 短路到开路后输出波形

测试项1 测试条件2:

VCC=5V

EN=5V

测试波形:

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图4:VOUT输出波形

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图5:VOUT 短路到开路后输出波形

测试项2:引脚短路

测试项2测试条件1:

VCC=3.3V

EN=3.3V

D1和VCC 引脚短路,其他不变

测试波形:

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图6:上电后VOUT 波形

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图7:芯片温度约44℃

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图8:IS802 短路D1时D2输出波形

测试项2测试条件2:

VCC=3.3V

EN=3.3V

VOUT 输出短路

D1和VCC 引脚短路,其他不变

测试波形:

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图9:VOUT输出波形

芯片设计

图10:VOUT 短路到开路后输出波形

测试项2测试条件3:

VCC=5V

EN=5V

D1和VCC 引脚短路,其他不变

测试波形:

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图11:VOUT输出波形

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图12:芯片温度约45℃

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图13:D1短路时D2输出波形

测试项2测试条件4:

VCC=5V

EN=5V

VOUT 输出短路

D1和VCC 引脚短路,其他不变

测试波形:

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图14:VOUT 输出波形

芯片设计

图15:VOUT 短路到开路后输出波形

测试项2测试条件5:

VCC=5V

EN=5V

VCC和D1引脚短路移除测试输出情况

测试波形:

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图16:故障移除后VOUT上电波形

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图17:VOUT 输出短路波形

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图18:VOUT 短路到开路后输出波形

测试项3:输入过压

测试项3测试条件1:

VCC=EN=5.5V~break down Voltage

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图19:黄色-VCC色-D1 蓝色-D2

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图20:黄色-VCC色-D1 蓝色-D2

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图21:黄色-VCC色-D1 蓝色-D2

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图22:黄色-VCC红色-D1 蓝色-D2

在输入电压约6.63V时候D1和D2不再输出见图19。当电压到达6.5V时D1和D2又继续正常输出见图20,输出电压从8V掉到6.5V以后VOUT还是正常输出,见图21。

当输入电压达到9.95V后D1和D2彻底没有输出,直接烧毁。

烧毁后VCC和GND,D1,D2,EN内部短路。

结论

目前测试来看,只有输入过压会造成芯片损毁,输入过压值已经远超手册规定最大值。

芯片设计

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