如何用直流扫描分析法DC sweep验证晶体管特性

在上篇《活学活用 LTspice 进行电路设计 — 简单五步绘制正确电路图》中，我们分享了只用简单五步绘制电路图的方法，展示了如何通过读取 JIG 电路来轻松模拟一个开关稳压器。本文将介绍如何使用预先准备好的模拟文件进行 DC sweep 直流扫描分析。

打开用于直流扫描分析的文件

此处以 Educational 文件夹为例，使用该文件夹内预先准备好的模拟文件进行处理。单击电脑上 “我的文档”，依次顺序点击 “LTspiceXVII”、“examples”，再到 “Educational”。在 Educational 文件夹内打开名为“curvetrace.asc” 的文件，可以得到如下图 (图1) 所示的双极晶体管 2N222 的电路图。以下我们将使用这个文件来进行 DC sweep 直流扫描分析，DC sweep 是通过改变器件的直流值来模拟其特性。

 

 

 

 

图1 电阻值变化时的电压值

直流扫描分析设置步骤

如上图 (图1) 所示，左边红色下划线 ① 为集电极与发射极电压 V1 的设置，这意味着 V1 将从 0V 至15V 范围内以 10mv 步长进行扫描。右键单击文本以打开 “编辑模拟” 命令，选择 1^st^ Source 以检查 V1 的配置，如下图(图2)红框部分所示。

上图 (图1) 所示中的蓝色下划线 ② 则为流经基极的电流I1的设置，这意味着 I1 将以 20uA 至 100uA 的 20uA 步长变化。通过在 Edit Simulation Command 中选择 2^nd^ Source 可以检查 I1 的配置，如下图 (图2) 蓝框部分所示。

 

 

 

 

图2 DC Sweep 的配置

检查晶体管 2N222 I-V 曲线

执行 RUN 后将得到如下图 (图3) 所示的 I-V 曲线图。使用这个文件稍作修改，还可以检查别的晶体管的 I-V 特性。此外，也可以将电流源 I1 更改为电压源以检查 FET 的 I-V 特性。

 

 

 

 

图3 晶体管的 I-V 特性

总结

本文介绍了如何用直流扫描分析法 DC sweep 验证晶体管特性。

审核编辑：汤梓红