芯片可测性设计技术有哪些 芯片可靠性测试流程和标准

从以前的模式中进行扫描，然后扫描除第一种以外的所有以及测试程序中的最后一个模式。

芯片制造后的检测可能影响功能的制造缺陷或者电参数。

理想情况下，生产测试将检查每个节点在证明它是可操作的电路。

编辑：黄飞