对比各家主流MCU指标,国产MCU真的品质不佳?

描述

  在今年举行的stm32峰会上,意法半导体公开表示国产mcu的质量不好。从当时公布的资料来看,st提出的问题是括国内MCU封装打线不可靠、低温相生启动失败、低电力模式觉醒失败等。国产mcu从上市到现在已有20年左右的历史。虽然初期使用量不多,大部分集中在消费行业,但在过去几年里,由于国际大工厂一度严重缺货,国产mcu已经开始进入一些工业、家电、汽车等对产品质量要求更严格的行业。

  st的主张是否属实,国产mcu的质量如何?我们收集了在市场上广泛使用的基于arm cortex-m0/m0 +的mcu产品,配置几乎相似,使用64kb的闪存。该产品与st于2023年2月推出的新一代stm32c0 (32kb flash)相比较。数据从各家庭公开的资料中申请。

静电干扰

  除去内核,主频率,内存容量等一般度量,比较结果如下。

  -最大温度范围表示芯片工作的周围温度。在温度范围内,st的温度范围最好能承受-40~125的温度范围。与此相比,国内竞争产品的最高温度普遍在85或105以下;

  -esd静电放电和lu lunch值是显示芯片可靠性的重要指标之一,温度越高越好。芯片在实际应用过程中,会受到人体直接接触、装备空气放电、环境线等多种系统的噪音和静电干扰,因此,如果芯片的esd和lu指标低,对环境干扰因素的抵抗力就会减弱。在产业、家电和汽车应用领域,esd和lu的要求很高。一般来说,如果环境温度升高,该指标就会下降,因此,如果指标相同,温度越高越好。从esd指标来看,st的hbm和cdm指标比较弱。相比之下,很多国内竞争产品可以达到6000v的水平。从esd来看,st并不占优势。在这样的指标中,国内mcu制造企业的业绩并不理想。从lu的指标来看,st的100ma水平比较普通。与此相比,国内竞争产品的部分有可能达到200ma,甚至300ma。

  -芯片启动时,程序代码会储存在flash中。flash的质量在mcu中非常重要。质量差的闪光灯,高温数据丢失或达到一定次数后,就会出现无法记录的现象。st的1万次删除次数也比较弱,与此相比,国内竞争产品的删除次数普遍达到其10倍。在存储寿命方面,st的15年储存量也处于中间水平,国内部分产品可以达到20年。

  芯片通过时钟驱动程序运行,并为mcu提供时间标准。如果这个时间标准不正确,所有需要正确时间的应用程序都会受到影响。从手表精度来看,st的精度范围比较好,但国内竞争产品也能达到相似的水平。

  从上述比较情况看,至少从数字上看,国内mcu制造企业经过几年的产品更新换代,不亚于质量已经著名的国际大工厂。当然,mcu的魅力在于每个客户的使用方式和运行环境都不一样,实际应用中的状态还不是仅靠各个家庭的公开资料就能一目了然。但是,最近几年国产mcu开发得很好是事实。虽然与国际mcu公司相比,在技术积累,生态构建等方面还有差异,但随着国产mcu公司不断投入资源,深入市场,这种差距将逐渐缩小。国产mcu公司将为市场提供更多更好的解决方案。

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