8月22日|泰克云上大讲堂—半导体可靠性热载流子效应测试详解

点击上方“泰克科技” 关注我们！

芯片上更多器件和更快时钟速度的不断发展，推动了几何形状缩小、新材料和新技术的发展。由于更脆弱、功率密度更高、器件更复杂和新的失效机制，这些因素都对单个器件的寿命和可靠性产生了巨大的影响，可能仅有10年的寿命，即使是很小的寿命变化，对设备来说也可能是灾难性的，所以器件的寿命和可靠性尤为重要。

在现代超大规模集成电路中，热载流子效应退化是一个相当重要的可靠性问题，热载流子效应测试是半导体工业中非常重要的一个环节，用于评估半导体器件在实际应用中的可靠性，并推算器件使用寿命，从而提高产品的品质和稳定性。

content

本期直播预告

本期云上大讲堂，泰克高级应用工程师 刘建章将着重为大家介绍：

■ 热载流子形成和分类

■ 热载流子效应的机理

■ 热载流子效应对半导体器件的影响

■ 热载流子效应可靠性测试方案

■ 器件热载流子效应的寿命估算

立即扫码添加泰克工程师小助手，获取报名链接！

只要你问，只要我有！

直播日程安排

请输入

时间

2023年8月22日（周四）1445

1400	半导体可靠性热载流子效应测试详解
1530	互动答疑
1545	抢答有奖

讲师介绍

刘建章

泰克高级应用工程师

主要负责西北区域的技术支持工作。多年以来一直在从事系统集成及测试测量相关工作，积累了丰富的产品开发流程及测试经验。目前主攻方向包括半导体分立器件测试、晶圆可靠性测试、晶圆自动化测试等。

点击阅读原文，立即报名！

欲知更多产品和应用详情，您还可以通过如下方式联系我们：

邮箱：[e-mail]

网址：tek.com.cn

电话：400-820-5835(周一至周五900)

将您的灵感变为现实

我们提供专业的测量洞见信息，旨在帮助您提高绩效以及将各种可能性转化为现实。
泰克设计和制造能够帮助您测试和测量各种解决方案，从而突破复杂性的层层壁垒，加快您的全局创新步伐。我们携手共进，一定能够帮助各级工程师更方便、更快速、更准确地创造和实现技术进步。

扫码添加“泰克工程师小助手”

立享1对1专属服务！

点击“阅读原文”立即报名！

---

原文标题：8月22日|泰克云上大讲堂—半导体可靠性热载流子效应测试详解

文章出处：【微信公众号：泰克科技】欢迎添加关注！文章转载请注明出处。