技术支持Agilent 41501A半导体参数分析仪

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描述


安捷伦41501A半导体参数分析仪
附加功能:

适用于安捷伦4155和安捷伦HP 4156的灵活资源扩展单元
2个脉冲发生器单元(pgu)作为选项提供
1个高功率SMU或2个中等功率smu可供选择
1.6A所有安捷伦41501B配置中都包含接地装置

半导体

Agilent 41501A皮安计/ DC电压源由一个极其稳定的皮安计和两个可编程DC电压源组成,其中一个可用作斜坡和阶梯发生器以及DC源。这些特性使该装置成为进行DC特性测量的理想选择,例如漏电流、电流-电压特性和准静态C-V测量,这些测量是半导体行业开发新产品和提高产量所必需的。它同样适用于电子元件和材料的测量,以确定泄漏电流或绝缘电阻。

安捷伦4145B半导体参数分析仪
附加功能:

半导体器件的全自动高速DC表征
高分辨率、宽范围源和测量。电流:1pA - 100mA,电压:1mV - 100V
最多1150个测量和显示点,用于精确测量和分析
灵活的图形分析功能,可快速提取参数
内置微型软盘驱动器,可存储240个用户程序或105个测量结果
Agilent 4145B是一款独立的仪器,能够对半导体器件和材料进行完整的DC表征。Agilent 4145B模拟电压和电流敏感设备,测量产生的电流和电压响应,并在内置CRT显示器上以用户可选的格式(图形、列表、矩阵或图表)显示结果。

审核编辑 黄宇

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