高精度、低噪声、快速采样——虹科ADC/DAC芯片测试平台

描述

HK-ATX7006A是具有9槽的ATE测试系统,模块化,可拓展,并配套分析软件ATView和WaveAnalyzer。

产品特点

支持线性和动态测试

DIO同步时钟模块

可测试8-24位的数模转换器

采样率200/400MHz

 

HK-ATX7006A 是一款完全集成的解决方案,用于测试 ADC、DAC 和其他模拟功能。它结合了极高的精度、低噪声和快速采样以及卓越的易用性。传统上,数据转换器是使用一整套台式仪器、滤波器、开关矩阵和用户制作的软件来测试的。需要许多工程时间才能获得可靠的结果。HK-ATX7006A 是一款适用于所有数据转换器测试和测试方法的单一仪器。以下是三种可拓展的模块概况,分别是任意波形发生器、数字化仪和其他模块。

 

波形发生器模块

 

 

测试

HK-AWG22
 

· 2 MHz 最大采样速度

· 22位分辨率

· 差分或单端输出

· 8 个输出范围,从        80mV 到 10.20Vpp

 

测试

HK-AWG20
 

· 2 MHz 最大采样速度

· 20位分辨率

· 差分输出

· 8 个输出范围

 

 

测试

HK-AWG18
 

· 300MHz最大采样速度

· 600 MS/s 和 1.2          GS/s 插值模式

· 18位分辨率

· 差分或单端输出

 

测试

HK-AWG16
 

· 400MHz最大采样速度
 

· 16位分辨率

· 差分输出

· 8 个输出范围

 

数字化仪

 

HK-WFD22

 

测试

1 MHz 采样率,22 位分辨率

具有 10 个范围的全差分输入

100 MΩ 低 I 偏置、1 MΩ 超低噪声输入

1.5 ppm 典型线性度

±(25 µV + 10 ppm 量程)绝对精度

 

 

HK-WFD20

 

测试

2 MHz 最大采样速度

20位分辨率

全差分输入

8 个输入范围

可选择滤波器以减少带外噪声

 

 

HK-WFD16

 

测试

180 MHz 最大采样速度

16位分辨率

全差分输入

16 个输入范围

可选择滤波器以减少带外噪声

 

 

 

其他模块

 

精密DC源

HK-DRS20

 

测试

 

超高精度直流电源

双通道,20位分辨率

2ppm 线性度
 

+/-10 V 输出摆幅

最大+/-10 mA 电流,1 µV/mA 负载调节

 

 

设备供电模块

HK-DPS16

 

测试

 

双通道电源,低输出噪声

16位分辨率,+/-12V 输出范围

2 或 4 线输出配置

最大 200 mA 具有可编程电流限制

PSRR 测量的调制能力

 

 

设备供电模块

HK-DIO-II

 

测试

 

多模式数字源/采集模块

非常低的抖动时钟生成

低速模式下数据速率高达 50 MHz

高速模式下数据速率高达 200 MHz

通过前置时钟输出高达 1 GHz 时钟速率

 

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