如何选择晶振测试仪

选择合适的晶振测试仪主要取决于您的具体需求和测试环境。以下是一些考虑因素：

频率范围：根据需要测试的晶振频率范围，选择能够覆盖该范围的测试仪。

精度和分辨率：高精度和分辨率的测试仪可以提供更准确的测试结果。考虑您对测试结果的要求，选择能够满足您需求的测试仪。

测试功能：不同的晶振测试仪可能提供不同的测试功能，例如阻抗测量、负载电容测量、PPM测量、Q值测量等。根据您的需求，选择具有所需测试功能的测试仪。

操作便捷性：考虑仪器的操作界面、操作步骤以及报告生成等便捷性。一个易于使用的测试仪可以节省您的测试时间。

预算：根据您的预算，选择适合您经济状况的晶振测试仪。

一、产品简介

晶振测试仪GDS-80系列是高性价比的晶振测试系统，采用网络分析技术，实现智能化测量，符合IEC-444标准。测量频率范围10KHz-200KHz,1MHz-200MHz，附USB接口进行数据通迅。

晶振测试仪GDS-80系列采用π型网络零相位法实现串联谐振频率的测量，采用直接阻抗法来测试负载谐振频率和负载电容，它测量精度高，速度快。具有串联谐振频率Fs、负载谐振频率FL、串联谐振电阻Rs、负载谐振电阻RL、负载电容CL、动态电容C1、动态电感L1、品质因数Q、静电容C0、频率牵引力Ts等参数测量功能，负载电容在1-100P范围内任意编程设置，从满足不同负载电容的晶振测试，智能网络分析技术运算克服了市场上晶振测试设备使用实体电容法测试精度差，无法测试电参数的缺点、解除了手工校对的麻烦，让晶振测试变得更轻松。

依据标准：

SJ/Z 9154.1-87/ IEC 444-1(1989)《用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数第一部分：用π型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法》；

SJ/Z 9154.2-87/ IEC 444-2(1980)《用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数第二部分测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法》；

GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶体元件参数的测量第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法》 ；

二、主要技术指标     

中心频率范围： 10KHz-200KHz,1MHz-200MHz任意设定

扫描范围：±1000ppm（默认±400ppm）   

负载电容：1-100P 任意设定

串联谐振频率Fs测量范围：±1000ppm（默认±400ppm）  测量精度：±5ppm

串联谐振电阻Fr：1MHz-100MHz：1Ω-1000Ω （2±10%*R Ω）

10KHz-200KHz：10K-300K  （2±10%*R KΩ）

负载电容CL测量范围：1-200PF 

时基误差：±1ppm 

负载谐振频率FL测量精度：±5ppm+时基误差+0.5Pf*频率牵引力Ts

配件：插件式100欧π网络测试座（标配），贴片式100欧π网络测试座（选配），插件式表晶测试座（选配），贴片式表晶测试座（选配），2520/3225/5032/7050贴片晶振适配套件（选配），通信软件（仅GDS-80P/S）。

审核编辑 黄宇