芯片温度测量方法和应用案例

芯片温度检测，你都知道哪些方法？

使用热电偶测量（接触式测温，易产生误差）

参照经典的结温方程（TJ = TA + PDϑJA ）计算温度（相对保守，与实际温度差别较大）

利用二极管作为温度传感器来检测（只适用于某些特定情况）

上述几种测温方法，都不能完全适用于芯片各环节的温度检测，那么，如何才能实现精准高效测温？

红外热像仪是一种非接触的测温仪器，可以通过对物体表面的热（温度）进行分布成像与分析，直接“看见”芯片的温度分布。  

芯片热像检测应用案例

1. 温度直观精准

▲功率芯片温度检测

图片为LED功率型芯片测试，芯片尺寸为1mm*1mm，需要观测LED通电后芯片表面的温度分布情况。黄色圆点表示上电后金属芯片的温度情况，6个黄点应该保持温度一致，2个白色圆点表示非金属区域的温度，应保持一致。

由于芯片较小，接触测量的话容易因接触物而改变芯片自身温度。FOTRIC 热像仪为非接触测温，30mk的热灵敏度，能精准检测各部位的温差，判断是否符合要求。

2. 全辐射热像视频流

▲贴片保险熔断测试  

贴片保险用于保护电路板，当电流过大时，保险会熔断以保护电路。在测试中，我们需要及时观察贴片保险的温度变化，而熔断过程只有300ms左右，很难通过拍照捕捉到。

而FOTRIC 热像仪的全辐射热像视频录制功能，可以实时记录通电过程的温度变化和分布情况，可随时查看温升曲线，还可以对视频进行后期的任意分析，便于发现问题，改善设计。

3. 配备20μm/50μm 微距镜

▲未封装芯片温度检测

芯片小至0.5mm×1.0mm，FOTRIC 热像仪支持20μm、50μm微距镜，可直接对未封装前细小芯片进行微米级的微观温度成像检测，发现过热连接线和连接点，改进芯片设计。

4. 强大的软件支持

对所采集到的温度数据，配合AnalyzIR软件做分析时的3D温差模式（ΔT）,可以直观观测到设计温度或理论值之外的异常热分布，并提供趋势图、三维图、数值矩阵等多种工具，有助于芯片的设计优化。

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　　审核编辑：汤梓红