Spark test 火花测试
火花测试用于发现绝缘导体的绝缘皮不良.火花测试机通常用于芯线押出或芯线对绞工段.有时也用于总绞工段.一般带屏蔽的电缆(编织线,铝箔向外)押出外被时也用火花机测其不良点.基本方法为在与被测物相接触的电极与接地 导体之间施加一电压.若绝缘介质不良(如太薄或一部分缺失),施加的电压会在接地导体上产生电弧.从而激发与此相连的指示器(如蜂鸣器.灯.计数器等).;火花测试中存在危险高压,故相关设备必须完全接地.一般测试机可采用AC或DC电压,老使用AC可使用不同的频率.为了安全,测试电流通常限制为无致命危险的水平.
Conductor Continuity 导体导通测试
电线电缆的导体导通是一关键特性.
除非另有规定.应用100V或更低的d-c电压测试导体导通性.手动导通测试时用一9V电池与一可视或可听的指示器串联.去除导体两端绝缘皮.把导体分开.使用自动测试仪时把每一根导体分别固定于测试治具上.若使用手动测试,通常把电线一端的所有导体连接于一共同测试端,把电压依次加于每一根导体两端.用指示灯表明电路导通或不导通.
Conductor Resistance 导体电阻
电线电缆中每一根导体的电阻是一重要特性.但导体电阻的测量通常只对成品进行抽样检查时进行,样本以出货时电线的单位(如轴)计算.若电缆含非常多根导体.测量时也可对导体抽样进行.除非另有规定. 导体电阻测量在68℉(20℃)条件下进行.温度核心依ASTMB 193.电阻随电缆长度变化.导体电阻通常用伏特表1欧姆计或惠斯顾电桥进行测试.
Conductor Resistance Unbalance 不平衡导体电阻
任一对导体的电阻差在通讯传输中是一关键特性. 不平衡导体电阻的测量通常与导体电阻的测量同时进行. 电阻值按每 对记录.较大电阻减去较小电阻值即为每对导体电阻的绝对差值. 绝对不平衡电阻通常以 Ω/1000ft或Ω/Km表示.有一使用较多的表示方法如下:
Coaxial Capacitance (Capacitance To Water)同轴电容(水中电容)
制程中测水中电容时,按如下进行,绝缘导体通过水槽,测量接地导体与水之间的电容,并自动反馈于控制设备.同轴电容为圆形金属导体外表面与绝缘层外表面之间存在的电容. 测试方法为取一截绝缘线浸入水池中.直接测量接地导体与水之间的电容,一般水温20℃土2 ℃,频率1000土10HZ.
Mutual Capacitance 相互电容
相互电容为一对导体之间的有效电容.在多对导体的电缆中.互容公式如下:
测量之前.电缆两端剥去外被.屏蔽层等.至两端露出芯线约2FT.把电缆一端的导体分开.保证导体不短路.不接地. 电缆另一端的导体剥去绝缘皮后.把所有导体短接后接地再量测.除非另有规定,互容为交流频率为1000土100HZ时的电容.
Capacitance Unbalance –- (Pair To Ground) 对线与地线间不平衡电容
对地不平衡电容如下图解. A和B为一对导体..Cag. Cbg.分别为导体A和B与屏蔽之间的直接电容.Cap和Cbp为导体A和B与其他对导体之间直接电容. 公式如下:
Capacitance Unbalance –- (Pair To pair) 对与对间的不平衡电容 其中,a-b为一对,c-d为一对.
不平衡电容n Cupp=(Cad+Cbc)-(Cac+Cbd)
Attenuation 衰减
衰减为一讯号行经电线电缆的信号损失强度.受绝缘导体材料和几何性的影响,单位为分贝(dB),dB值 (Decibel)之缩写,为衰减,串音与音量的单位,其观念与定义均由能量或功率的观念出发,即功率等于能量对时间的微分或单位时间输出能.
Propagation Delay 传输延迟
传输延迟为讯号经过待测物所需的时间,介质的介电常数愈小,传播速度愈快,损耗愈小.
Velocity of propagation 传播速率
传播速率亦即波长缩短率(同轴线特性之一),其定义为真空之介质系数与绝缘体介质系数之平方根比值,由于真空之介质系数为1,故以公式表示如下:
即信号传送之速度在电缆中与自由真空中之比较,如下为各种材料与空气中的介质系数.
Cross talk 串音
是邻接两导体之间由于传输信号时发生互相干扰现象而产生。串音产生之原因很多,在通信电缆而言通常是由于相邻对之绞距设计不当而引起.常见有下列几种
Worst Pair Near-End Cross talk (NEXT) 近端串音
Power Sum Near End Cross talk (PSNEXT) 功率和近端串音
Equal Lever Far-End Cross talk (ELFEXT) 远端串音
Power Sum Equal Lever Far End Cross talk (PSELFEXT) 功率和远端串音
Return Loss (RL) 反射损耗
Structural Return Loss (SRL)结构性反射损耗
SRL从输入阻抗中得出(开路/短路阻抗的平方根),RL从终端阻抗扫瞄中得出.SRL把输入阻抗与特性阻抗相比,而RL则把终端阻抗与负载阻抗(如100Ω)相比,因而两种测量不同.独立的特性阻抗和SRL特性曲线通常是特性说明的首选方法.因为两种曲线易于清楚的分开.从测量角度看,RL方法有时会更可取,因为它不要求输入阻抗的函数,拟合而使用负载阻抗作为参考值.
Impedance 特性阻抗
在一定交流电路中电阻,容抗与感抗之总和,单位为欧姆(Ω)
即以 Z=R2+(XL-XC)2 来表示,式中Z为阻抗,R为电阻,XL为感抗,XC为容抗.常见的有下列两种:
Input Impedance 输入阻抗
Characteristic Impedance 特性阻抗
Input Impedance (输入阻抗)的测试方法有两种
开路和短路法(Open/Short Method)的测量方法
开路和短路的测量方法基本原理如下:
以网路分析仪测试,将实测出的开路与短路的数据带入上列式中算出输入阻抗
负载法的输入阻抗(Matched Load Method)测量方法
负载法的测量方法基本原理如下:
于测试线材尾端连接一个与待测线阻抗相匹配的负载,以网路分析仪测试,仪器将自动依上述公式计算完成,即输入阻抗.
Characteristic Impedance 特性阻抗
以阵列方式拟合输入阻抗值大小依频率变化求出一渐进线
全部0条评论
快来发表一下你的评论吧 !