微沟槽效应的产生机理是什么?有什么表现?怎么抑制这种现象?

描述

在干法的深刻蚀过程中,精细的刻蚀控制成为一个至关重要的因素,它直接影响到芯片的性能。而微沟槽效应,是干法刻蚀工艺中常见的异常现象,它可以严重影响刻蚀深度的均匀性等。那么微沟槽效应的产生机理是什么?有什么表现?怎么抑制这种现象?

功率控制器

什么是微沟槽效应?

微沟槽效应(Microtrenching Effect),指的是在深刻蚀工艺中,表现为局部加剧的刻蚀效果,即侧壁底部的刻蚀深度大于中心部分的现象。我们刻蚀的目标是整个晶圆上的刻蚀深度和形状要一致,但微沟槽效应可能会降低刻蚀准确性、均匀性和深宽比等。

功率控制器

微沟槽效应的形成机理?  

1.离子轰击差异  

高能离子可以沿着刻蚀结构的侧壁“滑行”,“滑行”到侧壁底部的边角处产生聚集效应,导致边角处区域的材料刻蚀速率大大提高。随着时间的延长,这一区域的材料会被更多的刻蚀,因此就出现了微沟槽效应。  

功率控制器  

2.侧壁电荷积累  

在干法刻蚀过程中,高能离子撞击材料表面会产生二次电子。这些电子在电场的作用下会离开表面,在侧壁等形成电荷积累。电荷积累在侧壁区域形成局部电场,由于局部电场的存在,离子轨迹被偏转,增加了它们在侧壁边角处的浓度,加剧了边角处的刻蚀。

  功率控制器  

3.反应物分布不均

在高深宽比的刻蚀过程中,没有足够的刻蚀气体到达底部,反应物浓度的减少直接导致底部区域的反应速率降低。而刻蚀过程中产生的副产物需要从刻蚀区域移除,副产物的移除也变得更加困难,一定程度上也会影响刻蚀的均匀性。

微沟槽效应与刻蚀深度的关系?

理论上来说,刻蚀深度越深,出现微沟槽效应的几率越大。深度越深,刻蚀的时间越长,反应物生成物运输越困难,离子轰击差异越大,侧壁电荷积累越多,则微沟槽效应越明显。

怎么抑制微沟槽效应?

1.优化刻蚀参数

调整功率:射频功率控制等离子体的密度和离子能量。提高RF功率通常会增加离子通量和离子能量,这在一些情况下可能加剧微沟槽效应。但某些情况下,通过增加离子能量,也可能改善侧壁的刻蚀质量和形状。  

功率控制器

调整刻蚀气体比例:不同的气体比例可能影响刻蚀的物理和化学机制,某些气体可能更注重物理刻蚀,而其他气体可能更强调化学刻蚀。通过调整这些气体的比例,可以改变刻蚀过程的性质。以减缓微沟槽的形成。  

2.采用硬掩模   使用高选择性的硬掩模材料,避免反应气体与掩膜过快发生反应,以更均匀地传输刻蚀物质,减轻微沟槽效应。  

3.辅助电极   使用辅助电极来调控电场,以均匀的方式传输刻蚀物质。  






审核编辑:刘清

打开APP阅读更多精彩内容
声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉

全部0条评论

快来发表一下你的评论吧 !

×
20
完善资料,
赚取积分