【技术专栏】泰凌微电子产测工具使用——常见问题解决方法（一）

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【技术专栏】泰凌微电子产测工具使用方式一

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【技术专栏】泰凌微电子产测工具使用——配置带PA芯片的测试脚本

 

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量产工具开始测试后，界面出现load err，

该怎么解决？ 

 

 

解答：load err产生的原因是sws数据线通讯不正常，属于常见错误。

 

量产工具测试流程是Jig evk板子通过sws线把测试固件加载到dut的ram中，当这个过程出现的错误就会提示load err。出现问题后先检查下连线是否存在异常，大部分就可以解决。接线方式如下：

 

 

 

参考文档：《AN_18102501-C1_Assembly and Maintenance Manual for Telink BLE 1x6 Test System》

 

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点击start之后，窗口提示err open database，

该如何解决？

 

 

 

解答：软件打开时会生成数据库文件，每次“RUN”都会保存烧录状态到数据库文件里面，文件路径“EvkMonitordatabase[日期][时间].db”。如果[日期]或者[时间]有中文，或者软件所在目录有中文或者空格，都会导致数据库文件生成失败。除此之外还要检查电脑日期是否带中文，若带中文星期几也不行，可以按照如下方法修改系统时间格式：

 

点击右下角的时间，将时间设置中的星期去掉。

 

 

 

如果以上都没有问题，则检查test.tls中的##test_name:测试项名称是否有同名，若有同名请修改，此处同名会导致生成的config.ini文件中ITEM的name有同名，此时就会创建数据库失败。

 

参考文档：《AN_18101001-C2_Telink EvkMonitor User Guide.pdf》

 

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在EvkMonitor软件上如何打开log信息？

 

 

解答：在Tcon下打开log然后根据你命名的USB_ID进行选择，命名为0就选择EVK0

 

 

如果弹出下面的窗口，怎么办？

 

 

弹出窗口直接点击在确认后会出现下面窗口点击确定就可以使用log了。

 

 

通过log信息我们能快速定位出错原因。如下面报错是接收灵敏度不过，那可能是天线测试距离过远，或者阈值需要调整。接口的具体说明可参考《AN_20021101-C1_Decription of the Script test.tls of EVK Testbench BLE 2M Flash.pdf》

 

 

 

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在烧录固件时，出现flash CRC err，

如何解决？

 

 

解答：这代表当你更换BIN文件时没有完全擦除之前的BIN文件，需要重新设置擦除值。

 

 

具体操作：可以在脚本文件text.tls中更改擦除大小，这里需要注意设置的擦除值必须是4的倍数同时比你导入的BIN文件要大。

 

 

另一种方法是可以打开EVK——Configure——lastTemplate配置界面。

 

 

在这里来修改你的擦除值。

 

 

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生产过程中，出现IdLimit该怎么解决？

 

 

解答：这种情况是工具上配置的mac地址用完了，重新设置即可。具体烧录方式可以看下往期的文章，里面有详细介绍。

 

 

注：文中所提参考文档及软件可联系泰凌销售获取：[e-mail]。

 

 

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