JTAG接口至少包括3个输入端口(TDI、TMS、TCK)和1个输出端口(TDO),统称测试访问端口(TAP)。TRST可选。当TAP Controller在上电时不能复位,则TRST应当存在。
缩略语 | 描述 | 功能 |
---|---|---|
TDI | 测试数据输入 | 所有要输入到特定寄存器的数据都是一位一位串行输入的。上升沿有效。 |
TMS | 测试模式选择 | 用来控制TAP在不同状态之间相互转换;TMS在TCK上升沿有效。 |
TCK | 测试时钟信号 | 一个独立的时钟信号,TAP的所有操作都在这个时钟下完成。 |
TDO | 测试数据输出 | 所有要从特定寄存器输出的数据都是一位一位串行输出的。下降沿有效。 |
TRST | 测试复位信号 | 可选,该功能可能含在TAP Controller里。 |
• Test Clock Input (TCK) :TCK为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号,TAP的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的。TCK在IEEE 1149.1标准里是强制要求的。
• Test Mode Selection Input (TMS):TMS信号用来控制TAP状态机的转换。通过TMS信号,可以控制TAP在不同的状态间相互转换。TMS信号在TCK的上升沿有效。TMS在IEEE 1149.1标准里是强制要求的。
• Test Data Input (TDI) :TDI是数据输入的接口。所有要输入到特定寄存器的数据都是通过TDI接口一位一位串行输入的(由TCK驱动)。TDI在IEEE 1149.1标准里是强制要求的。
• Test Data Output (TDO):TDO是数据输出的接口。所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过TDO接口一位一位串行输出的(由TCK驱动)。TDO在IEEE 1149.1标准里是强制要求的。
• Test Reset Input (TRST) :TRST可以用来对TAP Controller进行复位(初始化)。不过这个信号接口在IEEE 1149.1标准里是可选的,并不强制要求。因为通过TMS也可以对TAP Controller进行复位(初始化)。
一个典型的JTAG连接器电路图如下:
注:0.100'' = 2.54mm
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