Flash ADC中电阻误差对性能的影响

描述

Flash ADC常由电阻DAC和比较器组成,性能受限电阻匹配精度和比较器offset。

电阻匹配包括浓度梯度引入的误差(与电阻版图摆放相关)和随机误差(与工艺相关),前者引入非线性误差。

Simulink建模6位Flash ADC,看电阻误差对ADC性能的影响,仿真时输入约1/2fs频率的正弦波。

电阻无任何误差时的结果

Simulink模型输出做INL/DNL分析与理想结果稍有出入,但相差不大。

比较器

由于浓度梯度, 电阻向一个方向逐渐变化情况(Linear Ladder)**

INL对应参考文章3.1节3.2~3.4式,在中间Code处,INL有极值(极大值还是极小值取决电阻失配是减是增),此处INL最大,与失配大小成正比。电阻逐渐减小情况和电阻逐渐增大情况分别如下图和下下图。

比较器

比较器

改变电阻排列,两端电阻向中间逐渐变化情况(Folded Ladder)

INL最大处变为1/4和3/4满量程code处,相比电阻朝一个方向变化情况有较大改善。电阻逐渐减小情况和电阻逐渐增大情况分别如下图和下下图。

比较器

比较器

电阻0.2%随机误差

电阻引入千分之二随机误差,仿真结果显示对性能影响不明显。

比较器

电阻10%随机误差

电阻引入百分之十随机误差,仿真结果显示对性能影响也不大。

比较器

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