inTEST ATS-710 车载芯片高低温测试解决方案

上海伯东美国 inTEST ThermoStream  高低温冲击热流仪, 为车载芯片提供稳定和高效的温度测试解决方案, 保证车规产品的高安全性, 高可靠性和高稳定性, inTEST 高度适配各类测试平台, 协助企业生产研发符合 AEC-Q100 可靠性认证的车载芯片.

inTEST ATS-710E 车载芯片高低温测试解决方案
由于车载电子产品基本覆盖汽车产品的全生命周期, 因此需要符合汽车功能安全标准, 而高低温冲击测试是其用于量产车上安全相关零部件的必要条件. 美国 inTEST 热流仪是一种用于车规级芯片高低温测试的设备. 它可以快速模拟汽车在使用过程中可能遇到的各种极端温度环境, 从而对芯片进行高温和低温测试.

上海伯东某客户是一家汽车动力系统研发商, 致力于为整车厂和动力系统供应商提供发动机及变速系统关键部件. 目前正在开发和研究洁净高效的未来车行技术, 尤其致力于车载电子系统解决方案, 不断提升电动汽车和混合动力汽车技术. 客户使用 inTEST ATS-710E 高低温冲击测试机, 为相关测试工作提供 -75°C 至 +225°C 快速温度冲击范围, 满足各类车规产品的高低温冲击要求.

ATS-710E-M 温度范围 °C: -75 至 + 225(50 HZ) 变温速率: -55至 +125°C 约 10 S 或更少                  +125至 -55°C 约 10 S 或更少 输出气流量: 4 至 18 scfm 温度精度: ±1℃ 通过美国 NIST 校准 温度显示分辨率: ±0.1℃ 温度传感器: T或K型热电偶 远程控制: IEEE 488 , RS232

inTEST ATS-710E 提供 Air Mode 和 DUT Mode 两种测试方式. 在实际测试中, 如果是单颗待测器件, 则将热电偶探头放置于器件周边, 越靠近器件越好, 此时, 设备输出的气体温度将使此热电偶处的温度达到设定值.

与传统高低温试验箱对比, 上海伯东 inTEST 热流仪主要优势:
1. 变温速率更快, 每秒可快速升温/降温 15 °C
2. 温控精度: ±1℃
3. 实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度
4. 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC (模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件
5. 对测试机平台 load board上 的 IC 进行温度循环 / 冲击; 传统高低温箱无法针对此类测试
6. 对整块集成电路板提供准确且快速的环境温度

上海伯东美国 inTEST  ThermoStream 系列高低温冲击热流仪, 移动设计, 通过输出快速, 清洁干燥的冷热循环冲击气流, 为芯片温度测试提供快速准确的温度环境, 适合模拟芯片在各种温度测试和调节的应用, 广泛应用于 RF 射频, 微波, 电子, 功率器件, 通信芯片等的循环试验 Thermal cycle, 高低温冲击测试 thermal shock, 满足芯片特性和故障分析的需求. 
上海伯东是美国 inTEST 中国总代理.

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