发声晶体管测试仪电路原理图

测试仪的操作特性：最少的控制和电流消耗

该测试仪无需任何用户操作的控件即可运行，仅在扬声器激活时才汲取电流。它由三个振荡器组成，每个振荡器都包含一个永久安装的晶体管和被测晶体管 (TOT)。这些振荡器通过缓冲或门共同驱动共享扬声器。每个振荡器的频率取决于相应 RC 网络（R5C2、R11C4 或 R15C5）的时间常数以及 TOT 的电流放大倍数。虽然 npn 部分几乎相同，但电源线却相反。

区分缓冲级：确保正确的扬声器连接

缓冲级表现出轻微的变化，以保证扬声器的正确连接。设计用于测试 n 沟道 FET 的级基本上源自 npn 级的设计。在操作期间，栅极必须保持相对于源极的负极性。高增益类型对于晶体管 T1、T3 和 Tc 至关重要，以防止低 f3 的 TOT 被错误地识别为无功能。

安全晶体管测试：测试仪设计和引脚排列变化

该测试仪经过专门设计，可促进未知晶体管的安全测试，而不会造成损坏。双极晶体管的引脚排列可能为 EBC 或 BCE。为了适应这种变化，建议使用带有端子 EBCE 甚至 CEBCE（适用于 npn 和 pnp）的测试引线。待检查的晶体管连接到不同的端子，直到扬声器激活。这不仅可以识别引脚排列，还可以识别 TOT 是 npn 还是 pnp 类型。发出的音调的频率可以作为发射器和收集器之间正确连接的指示器。不正确的连接会导致电流增益较低和振荡器频率较高，这可以通过互换两个连接来纠正。

n 沟道 FET 的对称性挑战：连接源极和漏极

n 沟道 FET 的对称性给区分源极和漏极带来了挑战。当扬声器启动时，表明栅极连接正确，但无法区分源极和漏极。测试引线具有灵活性，可端接到鳄鱼夹或快速释放的弹簧端子上。