光波干涉的原理是什么？光波干涉的应用有哪些？

文章来源：睐芯科技LightSense

原文作者：LIG

介绍了光波干涉的原理是什么，以及该原理可以应用于什么领域。

光波干涉在许多领域都有应用，例如：干涉仪器、干涉光栅等。而著名的干涉实验有：杨氏双狭缝实验和迈克尔逊干涉仪（Michelson interferometer）。这些实验和应用，有助于研究光波的性质，以及应用于测量、图像处理和科学研究等领域。

光波干涉原理可应用于多种检测和测量领域。

常见的应用有以下5种

1.薄膜厚度测量

光波干涉，可以用来测量透明薄膜的厚度。可通过观察干涉条纹的变化，来推断薄膜的光程差，从而确定其厚度。适用于：透明光学材料薄膜的测量。

2.折射率测量

光波干涉，可以通过测量材料中光的相位差来计算折射率，对于在材料研究、光学元件制造等领域非常有用。

3. 表面形状测量

光波干涉，可以用于测量物体表面的形状、高度差、凹凸度等。并经由分析干涉条纹的变化，得到物体表面的形状等信息。适用于：制造业中的精密表面质量检测，比如光纤端面3D形貌。

4.光学元件检测

光波干涉，可以用来检测光学元件的性能，如：透镜的曲率、平面度，光栅的参数等。

5. 其他应用

气体浓度测量、机械震动与变形测量、非破坏性材料检测与生物医学等领域。

光波干涉技术运用例子

1 .光纤端面干涉仪

以单色光或者白色宽带光的干涉来测量光纤端面3D形貌技术，在光纤通信产品上起到重要的作用。在光纤连接器生产车间和实验室，必备有光纤端面干涉仪，测量包括FC、SC、LC等单芯、MPO/MTP等多芯光纤产品。非接触式快速测量，可同时测量光纤高度、纤芯凹陷、连接器研磨角度等参数。

2. 显微干涉量测仪

以光干涉法来测量薄膜厚度及折射率等技术，在半导体光学元件、光学薄膜的制程或材料的研发实验室里，是显微干涉量测仪。非接触式测量可同时测量反射率、膜厚及光学系数；达到即时监控的目的，且不会伤害样品，快速且精准的达成测量目标。

审核编辑：汤梓红