介绍
RA系列单片机是瑞萨推出的32位ARM单片机,在某些产品中需要通过安规认证,如IEC60730(CLASS B),芯片硬件本身已经通过IEC60730认证了,今天主要说RA芯片软件自检函数库。
目前包括RA2A1、RA2L1、RA4M1、RA6M1四个系列芯片的例程。MCU自检分为两个部分:初始化自检和循环调用自检,可以分为以下:CPU、ROM、RAM、Clock、IWDT、Voltage、ADC、Temperature、POE、GPIO共10个部分,其中GPIO检测需要动作GPIO电位只能初始化时自检。
移植CLASS B代码
1、将SelfTestLib(CLASS B测试代码文件)和srec(CRC脚本及其配置参数文件)加入自己工程中,并加入工程的includes目录中如下图1。并根据芯片的特性,排除不需要的模块,如RA2系列MCU没有FPU模块,需排除,否则编译报错。
图1
2、可根据自身芯片的FLASH大小更改CRCcalcCmdXXKB.txt和CRCcalcCmdDebugXXKB.txt对应的数值。
3、添加CRC计算脚本,加入脚本命令arm-none-eabi-objcopy -O srec "${ProjName}.elf" "Original.srec" & ${ProjDirPath}/srec/srec_cat @${ProjDirPath}/srec/CRCcalcCmd64KB.txt,并利用仿真将CRC计算后的值写入ROM内存中的最后一个32位字节,如图2。
图2
4、设置一个周期性中断调用CLASS B周期性自检,周期时间长短可根据安规公司要求调整。
按照上述步骤作者成功编写移植了瑞萨官方提供的函数库,并编译通过无报错,见图3。
图3
CLASS B各个模块自检介绍
CPU
CPU的测试方式为向寄存器内写入数据,然后读出校验其是否能正常写入、读出,在写入数据和完成后会有将之前工作数据入栈(PUSH {R0-R7})和恢复数据的出栈指令(POP {R0-R7})等,运行CPU自检程序时,不能被其他程序打断,否则会发生数据运行错误。
ROM
ROM测试方式为引入外部脚本srec计算出CRC值写入内存的最后一位并与RA单片机内部CRC计算值对比,从而完成对ROM的计算,外部脚本写入地址如u图4中所示。
图4
RAM
RAM模块检验方式是向MCU的RAM区域进行读写测试,完成RAM校验。
CLOCK
CLOCK可采用内部或是外部时钟检验MCU主时钟,本例程中选中IWDTCLOCK时钟作为基准时钟。其中CLOCK的校验函数ClockMonitor_Init(HOC
O , IWDTCLK , CLOCK_FREQ_MAIN , 15000 , Clock_Test_Failure);
参数1:目标时钟
参数2:基准时钟
参数3:目标时钟频率
参数4:基准时钟频率
参数5:错误时回调函数
VOLTAGE
VOLTAGE检验是MCU打开LVD电压监控模式,如果MCU电源电压低于设定电压时MCU调用不可屏蔽中断NMI,进入报错函数。电压检测调用VoltageMonitor_Init(VOLTAGE_MONITOR_LEVEL_2_79);本例程中电源低于2.79V进入报错函数。
ADC
MCU内部有个ADC CRC模块,可以将ADC引脚接入CRC模块中,模块会产生0V基准、VCC/2基准、VCC电压基准来校验ADC,需要实时查看ADC引脚上的电压,看ADC模块能否正常转换电压。
TEMPERATURE
MCU内部有温度传感器TSN,可实时查看温度情况,一旦超过设定范围,可进入报错。
GPIO
GPIO检验功能在将GPIO设置为输出模式,然后读取管脚输出电平,既而判断完成检验。在GPIO外接电路时,可能会接上容性负载,GPIO管脚电平变化时可能是缓慢变化,所以设置完输出后要根据电路连接适当延时检测,从而避免发生错误。
作者对CLASS B自检各个模块项目所用时间长度做了大致的测算如图5
图5
结论
作者移植成功IEC60730安规认证库发现上电初始化自检大概需要70ms,且每隔一段时间会定时自检各个模块,其中最长的一次模块自检须用时长1.48ms,加入库代码时要考虑此时间长度是否对自身逻辑有无影响。注意循环测试中CPU自检不应该被任何中断打断,鉴于CPU测试时间比较短(小于1mS),建议开始CPU测试之前关闭中断、CPU测试完成后再打开中断,若强行打断CPU自检会导致程序跑飞、栈溢出等严重后果。此外GPIO自检会动作IO电平,对于大多数应用来说是不允许的,可跟安规公司沟通酌情添加此模块自检函数。
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