分光光度计的核心性能指标解析

测量仪表

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描述

分光光度计有波长和光度的准确度和重复性以及杂散光等性能指标。下面对其中一些主要性能指标进行介绍!

波长准确度

波长准确度顾名思义是指分光光度计工作时实际的扫描波长与设计时的理论波长的一致程度。其评价指标为波长误差,一般用其值的大小来衡量。 波长误差来源根据先天和后天可分为前期制造工艺的欠缺和后期使用过程中保养、校准和磨损等方面的缺陷而造成的。波长准确度造成的误差一般将之分类到分光光度计的系统误差。

波长重复性

波长重复性是指分光光度计在同一测量环境下,用同一波长的单色光重复多次对固定某一浓度的待测物质的吸光度进行测量,验证多次吸光度之间的一致性。其评价指标为吸光度离散性, 一般用最大值减去最小值的差来衡量。造成吸光度的离散性的原因有波长传动机构延时、测量环境变化、机械和环境振动以及读数误差等。波长准确度造成的误差一般将之分类到分光光度计的随机误差。

杂散光

杂散光是指到达检测器的任何非光源波长以外的光。一般的测量手段是使检测波长透过某一能够完全吸收其波长能量的物质,或者说该物质不能使检测波长透过,那么到达检测器上的任何光都被认定为杂散光,而其值的大小就是仪器杂散光的大小。 杂散光是分光光度计测量中造成误差的主要因素之一,其值愈小愈好。一般用杂散比来衡量,即杂散光能量与总的入射光能量之比。 其一般由外界干扰源的光线和仪器内部元件的热辐射以及光学元件的缺损造成对测量结果的影响。杂散光造成的误差一般将之分类到分光光度计的相对误差。

分辨率

分辨率是指分光光度计能以多小的波长间隔进行在波长扫描。一般用相邻波长之差来衡量。 影响分光光度计分辨率的主要因素有单色光的光强强度和纯度以及光电检测器的反映灵敏度。分辨率的高低是评估分光光度计性能好坏的主要指标之一。

光度准确度

光度准确度是指对特定物质吸光度的实际测量值与其标准吸光度值之间逼近程度。 其评价指标为透射比误差,大小为理想情况下的真值减去实际测量值。影响分光光度计光度准确性的主要因素有很多,如杂散光强度、波长准确度和重复度以及稳定性等。 稳定性 稳定性是指分光光度计在不同的工作环境或条件下是否能够正常工作,在较高性能下完成测量任务的能力。一般用基线漂移和光度重复性来衡量,其大小是一个综合考虑基线漂移和光度重复性后的最优指标。 因此,如果分光光度计的基线漂移满足使用条件,但是其光度重复性很差,就可将其认定为稳定性差,该分光光度计没有达到使用标准,不能投入使用。反之如果光度重复性满足条件,而基线漂移不好,则其稳定性也不好。

Photon RT 是专门为光学镀膜测试设计的仪器。内建宽谱带高对比自动偏光镜可以对紫外(185nm)到中波红外(5200nm)波段实现多角度和偏振态精确测量。

产品优点

宽光谱测量:紫外(185nm)到中波红外(5200nm)波段实现变角度和偏振态测量

标定:一键标定,测量透过率/反射率过程中光的入射角度改变时,无需进行基线再校准

步进精度:样品台和光电探测器配备的高精度旋转驱动,其步进角度为0.01°

可自动进行探测器横向位置补偿(±50mm),用于进行厚样品的轴外透过率测试以及复杂棱镜的透过率、反射率测试

内置氮气吹扫管道

色坐标计算(CIE 1931, CIE 1964,及其它光源)

可选配批量测试或位置可调夹具

可对单层均质膜进行NKD计算

变角度测试及位移补偿

光电探测器

探测器横向补偿范围可达±50mm,平面样品可使用软件自带的计算功能计算位置偏差

光电探测器

可选波段范围

1.185-1700

2.380-1700

3.185-3500

4.380-3500

5.380-3500

6.185-5200

Photon rt红外光源与卤素灯基线对比

光电探测器

红外光源与卤素灯测试曲线对比(铝膜)

光电探测器

红外光源与卤素灯测试曲线对比(宽带滤光片)

光电探测器

内置高对比度宽带起偏器

配置:

380-2200nm

220-2200nm

2000-5200nm(独家) 

380-5200nm(独家)

起偏器出厂前已内置于设备,

可通过软件控制

光电探测器

光电探测器

多角度测量及定性和定量的膜层分析

光电探测器

审核编辑:黄飞

 

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