高性能可编程直流电源 在AFE、射频、激光器芯片测试中的应用

随着半导体材料和制造工艺的不断升级，小型化、高性能化已成为芯片和器件的重要发展趋势，这意味着芯片的信号采集、处理、功耗等性能将得到持续提升，对于测试装置的精度、稳定性、集成度等重要指标，也提出了更高的标准和要求。

接下来，小编将为您分享NGI高性能可编程直流电源在AFE、射频、激光器芯片中的应用和相关案例。

AFE芯片

AFE（Analog Front End，模拟前端）芯片是一种用于模拟信号采集和处理的芯片，可对输入信号进行放大、滤波、采样、量化等处理，以便后端MCU进行分析。目前，AFE芯片已广泛应用于电动汽车、储能、医疗、工业等领域。

以电动汽车为例，AFE芯片是汽车电池电压、温度等参数采集的重要基础，因此，其电压采集精度的准确性、静态功耗是芯片设计、电池、主机厂等产业链上下游的关注重点。

NGI自主研发的N23010/N23020系列高精度多通道可编程直流电源可广泛应用于AFE芯片测试。产品具有如下特点：

高精度：电压精度最高可达0.1mV，可满足市面主流规格AFE芯片电压测试需求；

高集成度：3U空间最多可集成24通道，较传统桌面式电源节省超50%空间，可满足封测、流片、生产等大规模测试场景需求；

功能丰富：支持nA级电流测量，满足芯片或拼板漏电流测试需求，为客户节省额外高精度数字万用表的采购成本。

 

射频芯片

射频芯片是一种对信号进行放大、滤波、开关切换等处理的器件，广泛应用于雷达、通信、医疗、消费类电子等行业。纹波容易导致芯片输出混有杂散信号，影响信号处理。因此，供电电源输出纹波和稳定性对射频芯片性能至关重要。

以国内某TOP3射频芯片厂家Z为例，前期Z需针对射频功率芯片进行高温老化寿命测试（HTOL），单次测试时间高达1000h，样品须至少231片，前期Z在老化测试过程中，面临测试过度占用空间、额外增加成本等问题：

占用空间：为满足多批次测试需求，须使用8台传统桌面式程控电源，占用至少12U空间；

额外增加成本：为测试芯片漏电流，须采购高精度数字万用表，也额外占用测试空间。

经多方技术比对后，Z选择了N23010高精度多通道可编程直流电源，解决了空间和成本问题。

19英寸3U标准空间集成24通道，仅传统方案的四分之一；

电源集成μA级漏电流测量功能，可有效降低客户采购成本；

电压纹波≤2mVrms，长时间稳定性≤80ppm/1000h，可保证测试供电质量的纯净性和稳定性。

 

半导体激光器芯片

半导体激光器已广泛应用于材料加工、医疗、光通信、传感、国防等领域，而激光器芯片是激光器的核心部件，目前恒流老化测试已贯穿于研发、生产、品控等全流程环节。以国内某规模TOP2激光二极管芯片生产企业L为例，前期老化测试过程中，面临如下两方面问题：

传统程控电源本身启动瞬间容易出现电流过冲，开机后需要将电源调整为恒流模式，否则容易烧坏芯片；

电源输出电流最大5A，仅支持20块老化板，且产品不支持序列模式，导致老化测试效率偏低。

针对前期客户需求，NGI提供了更安全可靠、更大输出电流的N39200高精度双通道可编程电源。首先，N39200支持CC&CV优先输出模式，可保证输出平稳无过冲；同时，电源支持序列模式，支持8A/10A/20A等多种输出电流，支持更多老化板测试，经验证，单台8A电源便可支持30块老化板，对比前期测试方案，效率提升50%。

 

NGI将持续深耕场景需求和行业应用，不断推出业界领先的产品和测试方案，全方位解决客户实际应用需求，加速推进标准化体系建设，助力中国半导体行业高质量发展。