随着全球芯片算力需求的飞速增长,半导体探针卡测试的重要性日益凸显。探针卡作为半导体测试中的关键组件,其质量和性能直接关系到芯片测试结果的准确性和可靠性。因此,对探针卡制造过程中的每一个环节都提出了极高的要求,其中探针卡微孔加工尤为关键。
探针卡微孔加工对精度要求极高,因此需要超高精密加工设备才能满足技术要求。苏州璟丰机电JF系列微纳加工中心在微孔、深孔加工有着独特的技术突破,为半导体探针卡制造提供先进、高效的解决方案。
JF微纳加工中心一、加工要求
某公司芯片探针卡检测项目中,需要在PEEK材料的探针基座上打双层孔,共76个,大孔孔径0.3mm,孔深3.63mm,小孔孔径0.2mm,打通孔,孔间距为400.5um,同时保证孔内壁光滑。
半导体探针卡二、加工难点
三、解决方案
苏州璟丰机电JF系列微纳加工中心可满足半导体探针卡微孔加工需求。其核心部件包括高速主轴、视觉系统、直线电机和光栅反馈。
四、加工效果
经过对铣刀选择、孔定位、主轴转速以及进给率等综合技术工艺方案,JF系列微纳加工中心成功完成了PEEK材料上的双层孔加工任务。加工后的孔内壁光滑度达到了预期效果,完全满足了公司对于半导体探针卡制造的要求。
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