近日,Introspect Technology宣告全球首发GDDR7显存测试系统,支持密集并行的72通道、40 Gbps的PAM3 ATE-on-Bench测试。这将助力显存及GPU生产商以卓越速度实现新设备上市。
据悉,Introspect已成功交付M5512 GDDR7显存测试系统,此乃全球首个正规解决方案,专门针对JEDEC全新的JESD239图形双倍数据速率(GDDR7)SGRAM规范。此系统使得工程师与产品商可以轻松应对GDDR7显存设备的启动、协议排查错误、信号特性分析以及全面的读/写功能压力检测等工作,无需借助其他工具。
固态技术协会JEDEC于本月6日发布了JESD239 GDDR7显存标准。相较GDDR6而言,JESD239 GDDR7的带宽增加至两倍,每部设备最多可达到惊人的192GB/s。JESD239 GDDR7开创性地运用了脉幅调制定义接口(Pulse Amplitude Modulation,PAM)来实现高速操作。基于PAM3的接口表现出色,提升了信号噪声比(SNR),同时也提升了能源利用效率。其独特之处在于,它能在两个循环中传输3位数据,远超过传统NRZ接口的两比特表现,极大地提高了其每周期的数据传输率和整体性能。
M5512 GDDR7显存测试系统作为桌面级测量仪器,具备72个高性能引脚,每个引脚均能在PAM3模式中实现40Gbps的交换速率。每个引脚均配有双工电路用以完成读写操作,还具备完备的模拟功能组件。值得一提的是,AMD、镁光、英伟达、三星、SK海力士相继宣布对GDDR7标准表示支持。继三星在英伟达GTC 2024大会上展示GDDR7显存后,系列显存颗粒K4VAF325ZC-SC32与K4VAF325ZC-SC28现已登陆三星半导体官网上线,分别可支持28Gbps/32Gbps的速率 and 16Gb的单颗容量。
SK海力士方面透露目前正在致力于研发更高速度的显存模组,目标设为了更为强大的40Gbps。业内预测,首批采用GDDR7显存的产品或将于年内问世,其中包括备受期待的英伟达RTX 50系列显卡。
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