泰克解决方案助NEC电子获得首项USB 3.0认证

　　泰克公司日前宣布，其SuperSpeed USB解决方案为NEC电子符合USB 3.0标准的主机提供信号质量监测，该主机是世界首款获得USB设计者论坛USB 3.0认证的产品。

　　作为设计和生产集成电路的全球领导企业，NEC电子选择与泰克合作，验证其新的硅元件以满足新兴的SuperSpeed USB标准（USB3.0）要求。USB技术已经迅速被公认为连接电脑及外设的行业标准，与其它先进的高速接口如PCI Express 2.0和SATA Gen 3等相比，USB 3.0的性能可以支持高达5Gbps的数据速率，如此高的性能为测试测量带来了更复杂的挑战。为解决这些挑战，必须使用高性能、高灵活度的测量设备，以及能够加快和简化设计、测量和分析过程的工具。借助泰克USB 3.0测试解决方案，NEC电子这类企业的工程师们可以对USB设备进行检定、调试和一致性测试，自动实现余量和一致性测试。对关键的USB 3.0接收机余量测试，泰克AWG7122B任意波形发生器则可提供无可比拟的信号生成灵活度，可以帮助客户更快地把符合USB 3.0标准的产品推向市场。

　　泰克公司技术解决方案部市场经理Dave Slack表示：“泰克一直与NEC电子保持密切合作，共同验证、测试和调试SuperSpeed USB。今天，我们非常荣幸能为NEC电子的产品开发做出贡献，从而使其在业内率先获得USB 3.0认证。”

　　泰克USB 3.0解决方案

　　泰克SuperSpeed USB一致性测试解决方案基于一整套可提供优异的测量性能，满足高速串行协议需求的仪器，包括实时和采样示波器、任意波形发生器等。例如，DSA71254B实时示波器提供了高带宽和低噪声环境，可准确地捕获和分析快速串行信号时钟速率。对一致性测试中的眼图分析和余量测试，匹配的示波器采集系统变得至关重要。与其类似的是，AWG7122B任意波形发生器提供了复杂的波形，可以模拟传输路径的劣化效应，支持接收机测试。这些硬件工具与专业应用软件配合使用，如DPOJET抖动和眼图分析工具、SerialXpress高级抖动生成工具和TekExpress USB 3.0自动一致性测试软件等，为工程师检验和调试设计提供了所需的工具。