北京清微智能科技有限公司发布IC验证新方法，实现双DUT验证

　　清微智能在本周宣布新型专利“一种IC验证中实现双DUT验证的方法”已于今年3月获批。该项专利内容由该集团独立研究，申请日期优先于2024年3月26日。

　　据了解，这项发明将使IC验证环境更加精简及高效，受益方面包括IP验证速度提升以及验证流程简化等。

　　值得指出的是，尽管现有方法通过配置MONITOR进行验证，但这些过程耗费大量时间。然而，相较之下，清微新发明仅需运用新增DUT中的CPU读取数据，便能实现更快速和便捷的验证方式。

　　同时，如若待验证IP发生改变，无需重新建立验证环境乃至更新 CASE，大大减少了项目间验证环境的传承难度。

　　另外，这种验证方式简化了对MONITOR采集方案或UVM验证环境的关注，有助于防止数据错误，提高设计人员协助调试时的便利性。